Все разделы / Химия. Физическая химия /


Страницу Назад
Поискать другие аналоги этой работы



Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ

Дата закачки: 28 Февраля 2014

Автор: Дмитрий
Закачал: demonoo074
    Посмотреть другие работы этого продавца

Тип работы: Работа
Форматы файлов: Microsoft Word

Описание:
Растровая электронная микроскопия. В основе работы растрового электронного микроскопа (РЭМ) лежит сканирование поверхности образца сфокусированным электронным лучом (построчное перемещение луча вдоль поверхности образца), поэтому его часто еще называют сканирующим электронным микроскопом (СЭМ), что ближе к общепринятому английскому названию – scanning electron microscope (SEM).

Размер файла: 209,8 Кбайт
Фаил: Microsoft Word (.docx)

 Скачать Скачать

 Добавить в корзину Добавить в корзину

        Сейчас качают: 2         Коментариев: 0





Страницу Назад

  Cодержание / Химия. Физическая химия / Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ

Вход в аккаунт:

Войти

Перейти в режим шифрования SSL

Забыли ваш пароль?

Вы еще не зарегистрированы?

Создать новый Аккаунт




Сайт помощи студентам, без посредников!