Все разделы / Книги, учебники, методические пособия /


Страницу Назад
Поискать другие аналоги этой работы

За деньгиЗа деньги (5 руб.)

Физические измерения в микроэлектронике

Дата закачки: 13 Сентября 2012
Продавец: ostah
    Посмотреть другие работы этого продавца

Тип работы: Пособие
Форматы файлов: Adobe Acrobat (PDF)

Описание:
В монографии систематизированы физические методы исследования структуры, фазового состава, электрофизических свойств материалов и многослойных тонкопленочных структур, используемых в микроэлектронике для создания СБИС, а также функционального контроля микросхем. Представлены результаты по применению различных методов контроля на различных этапах разработки изделий электронной техники и показано их место в технологическй цепочке создания СБИС.
Предназначена для научных и инженерно-технических работников, занимающихся разработкой технологии создания СБИС с субмикронными размерами, а также для преподавателей, студентов и аспирантов вузов физических, физико-химических и технологических специальностей.

Размер файла: 2,8 Мбайт
Фаил: Упакованные файлы (.rar)

 Скачать Скачать

 Добавить в корзину Добавить в корзину

        Коментариев: 0


Есть вопросы? Посмотри часто задаваемые вопросы и ответы на них.
Опять не то? Мы можем помочь сделать!

Некоторые похожие работы:

К сожалению, предложений нет. Рекомендуем воспользваться поиском по базе.




Страницу Назад

  Cодержание / Книги, учебники, методические пособия / Физические измерения в микроэлектронике

Вход в аккаунт:

Войти

Перейти в режим шифрования SSL

Забыли ваш пароль?

Вы еще не зарегистрированы?

Создать новый Аккаунт




Сайт помощи студентам, без посредников!