Страницу Назад
Поискать другие аналоги этой работы



Беляев А.Е., Конакова Р.В (ред.) Физические методы диагностики в микро - и наноэлектронике

ID: 81750
Дата закачки: 29 Октября 2012
Закачал: alfFRED (Напишите, если есть вопросы)
    Посмотреть другие работы этого продавца

Тип работы: Пособие

Описание:
Харьков: ИСМА. 2011. - 284 с.
ISBN 978-966-02-5859-4

Монография охватывает базовые физические методы диагностики в микроэлектронике: методы рентгеновской дифракционной диагностики полупроводниковых материалов и структур для СБИС и ряда дискретных полупроводниковых приборов, а также полупроводниковых структур с квантовыми точками, квантовыми ямами и сверхрешетками; методы электронной микроскопии, Оже-электронной спектрометрии, РФЭС, ВИМС и обратного резерфордовского рассеяния, а также ряд зондовых методов в диагностике контактной металлизации и электрофизических параметров полупроводниковых материалов; теплофизические методы в диагностике микроволновых диодов и светодиодов.
Значительное внимание уделено методам математического моделирования механизмов токопереноса в контактах металл-полупроводник с высокой плотностью дислокаций в приконтактной области полупроводника и физико-статистическому моделированию отказов.

Содержание:
- Методы рентгеновской дифракционной диагностики кристаллов, гетероструктур и приборных структур полупроводников
- Методы электронной микроскопии, электронной и ионной спектроскопии в диагностике полупроводниковых материалов и структур
- Методы и средства неразрушающего контроля качества полупроводниковых изделий по их тепловым параметрам
- Зондовые методы измерений параметров полупроводниковых материалов и структур
- Механизмы формирования контактного сопротивления омических контактов металл—полупроводник. Теоретическое моделирование
- Физико-статистическое моделирование отказов в задачах диагностики полупроводниковых приборов

Размер файла: 5,5 Мбайт
Фаил: Упакованные файлы (.rar)

   Скачать

   Добавить в корзину


    Скачано: 1         Коментариев: 0


Есть вопросы? Посмотри часто задаваемые вопросы и ответы на них.
Опять не то? Мы можем помочь сделать!

Некоторые похожие работы:

К сожалению, точных предложений нет. Рекомендуем воспользоваться поиском по базе.

Не можешь найти то что нужно? Мы можем помочь сделать! 

От 350 руб. за реферат, низкие цены. Просто заполни форму и всё.

Спеши, предложение ограничено !



Что бы написать комментарий, вам надо войти в аккаунт, либо зарегистрироваться.

Страницу Назад

  Cодержание / Книги, учебники, методические пособия / Беляев А.Е., Конакова Р.В (ред.) Физические методы диагностики в микро - и наноэлектронике
Вход в аккаунт:
Войти

Забыли ваш пароль?

Вы еще не зарегистрированы?

Создать новый Аккаунт


Способы оплаты:
UnionPay СБР Ю-Money qiwi Payeer Крипто-валюты Крипто-валюты


И еще более 50 способов оплаты...
Гарантии возврата денег

Как скачать и покупать?

Как скачивать и покупать в картинках


Сайт помощи студентам, без посредников!