Элементная база телекоммуникационных систем. Лабораторная работа №2 .Вариант №15

Состав работы

material.view.file_icon A06F4061-941C-41C9-A0EA-22C0EE557CC7.docx
Работа представляет собой файл, который можно открыть в программе:
  • Microsoft Word

Описание

1 Задание на подготовку к выполнению лабораторной работы

Тема: Исследование характеристик полевых транзисторов

Цель работы: Изучить статические ВАХ и другие определяющие характеристики полевых транзисторов (лекция 3)

Выполнению данной работы должна предшествовать предварительная подготовка, состоящая в следующем:
1. Изучение темы и цели лабораторной работы.
2. При изучении теоретического материала в объеме материала лекций и теоретического введения обратить внимание на следующие основные вопросы:
- достоинства и недостатки полевых транзисторов;
- применение полевых транзисторов в элементарных схемах.

Номер варианта для выполнения лабораторной работы должен выбирается по двум последним цифрам номера пароля. Варианты приведены в Приложении.

2 Теоретическое введение

Полевой транзистор – это полупроводниковый прибор, принцип действия которого основан на полевом эффекте – изменение электропроводимости поверхностного слоя под действием электрического поля, направленного перпендикулярно поверхности.
От биполярного транзистора полевой транзистор отличается:
1) принципом действия: в биполярном транзисторе управление выходным сопротивлением производится либо входным током, либо разностью потенциалов между входными выводами транзистора, а в полевом транзисторе - входным потенциалом затвора или электрическим полем;
2) полевой транзистор обладает большим входным сопротивлением.
3)  в полевом транзисторе не происходит инжекции носителей заряда – отсюда уменьшение рекомбинационных явлений и низкий уровень шумов (особенно на низких частотах).
Таким образом:
 полевой транзистор (ПТ) – полупроводниковый прибор, в котором регулирование тока осуществляется изменением сопротивления проводящего канала с помощью поперечного электрического поля. Ток полевого транзистора обусловлен потоком основных носителей.
 электроды полевого транзистора называют истоком (И), стоком (С) и затвором (З). Управляющее напряжение прикладывается между затвором и истоком. Полевой транзистор можно рассматривать как источник тока, управляемый напряжением затвор-исток.
 по конструкции полевые транзисторы можно разбить на две группы: с управляющим p–n-переходом и с металлическим затвором, изолированным от канала диэлектриком.
Принцип действия полевого транзистора с управляющим p–n-переходом основан на изменении проводимости канала за счёт изменения его поперечного сечения. Между стоком и истоком включается напряжение такой полярности, чтобы основные носители заряда (электроны в канале n-типа) перемещались от истока к стоку. Между затвором и истоком включено отрицательное управляющее напряжение, которое запирает p–n-переход. Чем больше это напряжение, тем шире запирающий слой и уже канал. С уменьшением поперечного сечения канала его сопротивление увеличивается, а ток в цепи сток – исток уменьшается. Это позволяет управлять током стока с помощью напряжения затвор-исток Uзи . При некоторой величине напряжения затвор-исток запирающий слой полностью перекрывает канал, что приводит к уменьшению проводимости канала. Напряжение Uзи, при котором перекрывается канал, называют напряжением отсечки и обозначают Uотс . Для n-канального полевого транзистора напряжение отсечки отрицательно.
Входные (стоковые) характеристики у полевых транзисторов отсутствуют, так как входной ток равен нулю. Выходные характеристики полевого транзистора с управляющим p–n-переходом и каналом n-типа показаны на рис. 2.2. На выходной характеристике можно выделить три области – отсечки, линейную (триодную) и насыщения. В линейной области ВАХ представляют прямые, наклон которых зависит от напряжения затвор-исток Uзи. Минимальное сопротивление канала достигается, когда напряжение Uзи = 0, так как проводящая часть канала в этом случае имеет наибольшее сечение. Таким образом, в линейной области полевой транзистор можно использовать как резистор, сопротивление которого регулируется напряжением затвора.
В области насыщения ветви выходной характеристики расположены почти горизонтально. Это объясняется тем, что при увеличении напряжения сток-исток Uси область перекрытия канала вблизи стока расширяется и сопротивление канала увеличивается. В области насыщения полевой транзистор удобно моделировать передаточной характеристикой – зависимостью тока стока IС от напряжения затвор-исток Uзи при постоянном напряжении сток-исток:
. (2.1)

Передаточная (сток – затворная) характеристика n-канального полевого транзистора с управляющим p–n-переходом показана на рис. 2.3. При нулевом напряжении на затворе ток стока имеет максимальное значение, которое называют начальным I с нач. При увеличении напряжения затвор-исток ток стока уменьшается и при напряжении отсечки Uотс становится близким к
ВАХ полевого транзистора на участке, соответствующем линейному режиму, аппроксимируется выражением (2.2).
. (2.2)

В области усиления статистические характеристики идеального транзистора любой структуры описывается выражением (2.3)
, (2.3)
где ß –постоянный коэффициент, зависящий от конструкции транзистора ( );
U0 – напряжение запирания ( ).
В режиме насыщения можно использовать формулу (2.4).

. (2.4)

Поведение p-канальных полевых транзисторов описывается такими же уравнениями. Следует учесть только, что для p-канальных ПТ напряжения имеют другую полярность, т. е. Uотс > 0, а Uси < 0.
Важным параметром полевого транзистора является крутизна характеристики, определяемая как отношение приращения тока стока Δ с I к приращению напряжения затвор-исток ΔUзи :
, (2.5)

где , (2.6)
. (2.7)

МДП транзисторы имеют один или несколько затворов, электрически изолированных от проводящего канала одним или несколькими слоями диэлектрика. При приложении электрического напряжения к участку затвор-исток в полупроводнике на границе с диэлектриком появляется электрический заряд противоположного знака, который влияет на электропроводность прилегающего слоя полупроводника, образующего канал. В виде дискретных элементов выпускаются транзисторы с изолированным затвором двух разновидностей: со встроенным и индуцированным каналом. Транзистор с индуцированным каналом характеризуется тем, что канал возникает только при подаче на затвор напряжения определенной полярности. При нулевом напряжении канал отсутствует. При этом между стоком и истоком включены два обратно смещенных p– n-перехода. Один p–n-переход образуется на границе между подложкой и стоком, а другой – между подложкой и истоком. Таким образом, при нулевом напряжении на затворе сопротивление между стоком и истоком очень велико, ток стока ничтожно мал и транзистор находится в состоянии отсечки.
Удельная крутизна транзистора с индуцированным каналом определяется по формуле (2.8).

, (2.8)
где μ– приповерхностная подвижность носителей, C0 – удельная емкость затвор-канал, L – длина, W – ширина канала.
Если напряжение сток-исток мало, как часто бывает в импульсных и ключевых схемах, то выходная характеристика, соответствующая линейному режиму, аппроксимируется выражением (2.9).

. (2.9)

Величину b(Uзи - U0) - называют проводимостью канала, а обратную величину – сопротивлением канала.
Таким образом, при малых напряжениях сток-исток транзистора с индуцированным каналом эквивалентен линейному резистору, сопротивление которого регулируется напряжением затвора.
Транзистор со встроенным каналом n – типа при нулевом напряжении на затворе имеет ненулевое значение, называемое начальным I с нач. Если Uзи > 0 , число электронов в канале увеличивается. Это приводит к увеличению проводимости канала. Такой режим работы транзистора со встроенным каналом, при котором концентрация носителей в канале больше равновесной, называют режимом обогащения. Передаточная характеристика транзистора со встроенным каналом представлена на рисунке 2.5.
Методика определения крутизны полевого транзистора:
Выбирается произвольная точка О на линейном участке ВАХ при =0.5 .
1. В выбранной точке строится касательная к графику ВАХ.
2. На касательной строится произвольный прямоугольный треугольник, например ACB.
3. Крутизна характеристики S определяется как отношение длин катетов CA и BC:

У полевых транзисторов выходное дифференциальное сопротивление показывает влияние напряжения сток - исток Uси на выходной ток транзистора Iс. Оно определяется по наклону стоковой характеристики на участке насыщения. Методика определения дифференциального выходного сопротивления представлена ниже:
1. Выбирается произвольная точка О на произвольной ветви выходных ВАХ в области насыщения токов.
2. В выбранной точке строится касательная к графику ВАХ.
3. На касательной строится произвольный прямоугольный треугольник, например ACB.
4. Дифференциальное сопротивление определяется как отношение длин катетов CA и BC:

, (2.10)

где , (2.11)
. (2.12)
3 Задание на выполнение лабораторной работы

3.1 Расчетная часть работы

1. Рассчитать основные параметры и построить сток – затворную и выходную (стоковую) характеристики полевого транзистора.
2. По графику сток-затворной характеристики определить дифференциальную крутизну S, по графику выходных (стоковых) ВАХ определить дифференциальное выходное сопротивление , используя методические указания раздела 2.

3.2 Экспериметальная часть работы

1. Исследовать семейства проходных (сток-затворных) и выходных (стоковых) ВАХ полевого транзистора (тип транзистора выбирается из Приложения А в соответствии с вариантом) используя измерительную схему, приведенную на рисунке Б.6. Исследования проводить по методическим указаниям раздела 4.
2. По полученным данным построить графические характеристики в одних осях с характеристиками, полученными по расчетам (3.1).
3. Рассчитать крутизну характеристики и дифференциальное сопротивление по экспериментальным характеристикам.




4 Рекомендации к выполнению исследований

4.1 Расчетная часть

4.1.1 Расчет характеристик транзисторов с управляющим p-n переходом
Выбрать тип (марку) полевого транзистора с управляющим p-n переходом из Приложения А. Для выбора характеристик используйте ресурсы Интернет:
Характеристики:
https://alltransistors.com/ru/mosfet/kak_podobrat_zamenu_dlia_mosfet.php
аналог
http://www.dectel.ru/philips/analogues/various/j-fet_transist.shtml
Выписать параметры исследуемого транзистора, используя ресурсы Internet:
a)  , mA - максимально допустимый постоянный ток стока;
b)  , В - предельно допустимое напряжение между стоком и истоком;
c)  , В – напряжения отсечки для транзистора с управляющим p-n переходом;
d)  , В - предельно допустимое напряжение между затвором и истоком.
4.1.2 Расчет характеристик транзисторов с индуцированным каналом

Выбрать тип (марку) полевого транзистора с индуцированным каналом из Приложения А.
Выписать параметры исследуемого транзистора, используя ресурсы Internet:
a)  , mA - максимально допустимый постоянный ток стока;
b)  , В - предельно допустимое напряжение между стоком и истоком;
c)  , В - предельно допустимое напряжение между затвором и истоком;
d)  , В - минимальное напряжение между затвором и истоком;
e)  ,В – пороговое напряжение для транзистора с индуцированным каналом(выбрать максимальное значение порогового напряжения);
Занести значения и марку выбранного транзистора в таблицу 4.3.
4.2.1Исследование ВАХ транзисторов с управляющим p-n переходом

1. Собрать измерительную схему рисунка Б.6, для исследования семейств сток-затворных и стоковых характеристик (на рисунке приведён пример измерительной схемы для транзистора с n-каналом). Если по варианту требуется исследовать транзистор с p-n переходом с p-каналом, то схему рисунка Б.6 необходимо исправить так, чтобы полярности подключения источников и , а также подключение измерительных приборов соответствовали нормальному включению полевого транзистора с p-n каналом. То есть p-n переход между затвором и истоком должен быть смещён источником в обратном направлении, а основные носители заряда в канале должны течь под действием от истока к стоку. (При отсутствии в библиотеке программы требуемого транзистора, воспользуйтесь аналогом).
2. Исследовать семейство статических сток-затворных характеристик транзистора при 2-х фиксированных рекомендуемых значениях =const, вычисляемых по выражениям в первой строке таблицы 4.5. Для исследования каждой ветви ВАХ выполнить следующие действия:
- установить значение источника в соответствии с очередным значением ;
- вычислить по выражениям во 2-м столбце таблицы 4.5 рекомендуемые значения и зафиксировать их во 2-м столбце таблицы 4.5 в отчёте;
- с помощью источника установить вычисленные выше значения (устанавливать значения по модулю) ;
- для каждого установленного измерить по амперметру А1 ток стока и зафиксировать в таблицу 4.5;
Выполнить вышеуказанные действия для обоих указанных в таблице значений .
Внимание! записывать в таблицу со знаком «+», т.к. направление тока противоположно показаниям амперметра.
По измеренным значениям построить семейство сток-затворных ВАХ полевых транзисторов в одних с осях с расчетными характеристиками.
5 Содержание отчета

1. Тема и цель лабораторной работы.
3. Таблицы с результатами измерений.
4. Графики статических проходных и выходных ВАХ.
5. Расчет крутизны сток-затворной характеристики S.
6. Расчет дифференциального выходного сопротивления .
7. Выводы по результатам проведенных исследований.

2020 год.
Лабораторная работа №2 по дисциплине: Элементная база телекоммуникационных систем. Вариант 15
Лабораторная работа №2 ИЗУЧЕНИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫХ ОПЕРАЦИОННЫХ УСИЛИТЕЛЕЙ 1. Цель работы Изучить типы, характеристики и параметры интегральных операционных усилителей (ИОУ). 2. Подготовка к работе Изучить следующие вопросы курса: – методика автоматизированного поиска перспективных изделий электронной техники; – определение ИОУ; – классификация ИОУ; – структурные схемы ИОУ; – поколения ИОУ; – амплитудная характеристика инвертирующего ИОУ; – амплитудная характеристика неинвертирующего ИОУ; – амплиту
User Roma967 : 20 декабря 2022
500 руб.
Лабораторная работа №2 по дисциплине: Элементная база телекоммуникационных систем. Вариант 15 promo
Элементная база телекоммуникационных систем Лабораторная работа 2
1 Задание на подготовку к выполнению лабораторной работы Тема: Исследование характеристик полевых транзисторов Цель работы: Изучить статические ВАХ и другие определяющие характеристики полевых транзисторов (лекция 3) Выполнению данной работы должна предшествовать предварительная подготовка, состоящая в следующем: 1 Изучение темы и цели лабораторной работы. 2 При изучении теоретического материала в объеме материала лекций и теоретического введения обратить внимание на следующие основные вопросы:
User L0ki : 29 декабря 2020
200 руб.
Элементная база телекоммуникационных систем
Вариант 15 Задание 1 1. Осуществить расчет параметров диода по заданным параметрам, приведенным в таблице 1 (формулы для расчета приведены ниже таблицы 1). 2. Выбрать все типы диодов из Приложения А, с параметрами, удовлетворяющими условиям (1) и (2). Задача 2 ВЫБОР СТАБИЛИТРОНОВ ДЛЯ ВТОРИЧНЫХ ИСТОЧНИКОВ ПИТАНИЯ Задача 3 АВТОМАТИЗИРОВАННЫЙ ПОИСК ТРАНЗИСТОРА
User radist2020 : 30 января 2022
600 руб.
Элементная база телекоммуникационных систем. Лабораторная работа №2. Вариант 4.
Цель работы: Изучить статические ВАХ и другие определяющие характеристики полевых транзисторов
User Fockus : 7 июля 2023
200 руб.
Элементная база телекоммуникационных систем. Лабораторная работа №2. Вариант №11
Цель работы: Изучить статические ВАХ и другие определяющие характеристики полевых транзисторов Марка транзистора: Motorola MMBF170 Марка транзистора: Philips BF 904
User Кот Леопольд : 31 января 2021
500 руб.
Элементная база телекоммуникационных систем. Лабораторная работа №2. Вариант №11
Элементная база телекоммуникационных систем. Лабораторная работа №2. Вариант 11.
Цель лабораторной работы: Изучение основных характеристик светоизлучающего диода. Выбор варианта: Вариант выбирается по двум последним цифрам пароля. Задание: 1. Изучить материал, приведенный в лекции №2. 2. Запустить программу CID (LightDiode) 3. Пройти допуск к лабораторной работе Ответить на вопросы теста. Минимальное количество правильных ответов на тест должно быть не менее 6 (сделать «скрин» итогового значения правильных ответов) 4. Выбрать светоизлучающий диод (табл. 1), 5. Оформить отч
User banderas0876 : 18 марта 2020
250 руб.
Элементная база телекоммуникационных систем. Лабораторная работа №2. Вариант 11.
Элементная база телекоммуникационных систем/ Лабораторная работа 2 Вариант 4
Внимательно читайте задание! Цель лабораторной работы: Изучение основных характеристик светоизлучающего диода. Выбор варианта: Вариант выбирается по двум последним цифрам пароля. Задание: 1. Изучить материал, приведенный в лекции №2. 2. Запустить программу CID (LightDiode) 3. Пройти допуск к лабораторной работе Ответить на вопросы теста. Минимальное количество правильных ответов на тест должно быть не менее 6 (сделать «скрин» итогового значения правильных ответов) 4. Выбрать светоизлучающий диод
User Fijulika : 19 ноября 2019
30 руб.
Контрольная работа по дисциплине: Элементная база телекоммуникационных систем. Вариант 15
АНАЛИЗ ТЕХНИКО-ЭКОНОМИЧЕСКОЙ ЭФФЕКТИВНОСТИ ВНЕДРЕНИЯ НАНОЭЛЕКТРОННЫХ ИЗДЕЛИЙ Цель работы Оценить технико-экономическую эффективность внедрения изделий наноэлектроники. 1. Исходные данные В качестве наноэлектронного изделия студенты рассматривают интегральную схему ультравысокой степени интеграции (УБИС), тип которой соответствует двум последним цифрам пароля (таблица 1.1). Данные наноэлектронного изделия и параметры компонентов, которые используются для реализации изделия соответствующего по
User Roma967 : 3 января 2023
1000 руб.
promo
Денежные средства
Введение В рыночной экономике между предприятиями постоянно совершаются сделки по поводу покупки средств и предметов труда, реализации продукции (работ, услуг). За все приобретенное со стороны следует уплачивать деньги и соответственно получать средства и за отгруженную продукцию или оказанные услуги. В процессе  хозяйственной деятельности предприятия ведут расчеты с поставщиками за  приобретенные у них основные средства, сырье, материалы и другие  товарно-материальные ценности  и оказанные ус
User ostah : 18 сентября 2012
200 руб.
Технологический процесс изготовления фланца токарного патрона (технологическая часть дипломного проекта)
Содержание 1 Разработка технологического процесса изготовления детали 1.1 Назначение и конструкция детали 1.2 Анализ технических условий изготовления детали 1.3 Анализ технологичности конструкции детали 1.4 Определение типа производства… 1.5 Выбор метода получения заготовки 1.6 Анализ базового технологического процесса обработки детали… 1.7 Выбор методов обработки… 1.8 Выбор технологических баз 1.9 Разработка технологического маршрута обработки детали… 1.10 Разработка технологически
User maobit : 5 июня 2018
990 руб.
Технологический процесс изготовления фланца токарного патрона (технологическая часть дипломного проекта) promo
Гидравлика и нефтегазовая гидромеханика Хабаровск ТОГУ Задача 42 Вариант 5
Определить минимальное начальное давление газа р1 необходимое для пропуска весового расхода G по стальному газопроводу, диаметром d и длиной l, чтобы давление в конце трубопровода было бы не менее p2. Удельный вес газа γ=8 Н/м³, кинематический коэффициент вязкости ν=14,5·10-6 м²/c.
User Z24 : 25 ноября 2025
150 руб.
Гидравлика и нефтегазовая гидромеханика Хабаровск ТОГУ Задача 42 Вариант 5
Гидромеханика: Сборник задач и контрольных заданий УГГУ Задача 1.35 Вариант а
В закрытом резервуаре с нефтью показание вакуумметра, измеряющего давление на свободной поверхности, равно рвак (рис. 1.35). Определить, какое давление, манометрическое или вакуумметрическое, показывает мановакуумметр (МВ), установленный на глубине Н, а также глубину hр положения пьезометрической плоскости. В расчетах плотность нефти считать равной ρнефт.
User Z24 : 3 октября 2025
150 руб.
Гидромеханика: Сборник задач и контрольных заданий УГГУ Задача 1.35 Вариант а
up Наверх