Вакуумное напыление
Состав работы
|
|
|
|
Необходимые программы
Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
- Microsoft Word
Описание
Содержание
Введение
1.Термическое вакуумное напыление
1.1 Резистивное напыление
1.2 Индукционное напыление
1.3 Электронно-лучевое напыление
1.4 Лазерное напыление
1.5 Электродуговое напыление
2. Распыление ионной бомбардировкой
2.1 Катодное распыление
2.2 Магнетронное распыление
2.3 Высокочастотное распыление.
2.4 Плазмоионное распыление в несамостоятельном газовом разряде
3. Технология тонких пленок на ориентирующих подложках
3.1 Механизмы эпитаксиального роста тонких пленок
3.2 Молекулярно-лучевая эпитаксия
Заключение
Тонкие пленки, наносимые в вакууме, широко применяются в производстве дискретных полупроводниковых приборов и интегральных микросхем (ИМС).
Получение высококачественных и воспроизводимых по электрофизическим параметрам тонкопленочных слоев является одним из важнейших технологических процессов формирования структур как дискретных диодов и транзисторов, так и активных и пассивных элементов ИМС.
Таким образом, от совершенства технологических процессов нанесения тонких пленок в значительной степени зависят надежность и качество изделий микроэлектроники, технический уровень и экономические показатели их производства.
Тонкопленочная технология базируется на сложных физико-химических процессах и применении различных металлов и диэлектриков. Так, тонкопленочные резисторы, электроды конденсаторов и межсоединения выполняют осаждением металлических пленок, а межслойную изоляцию и защитные покрытия – диэлектрических.
Важным этапом является контроль параметров тонких пленок (скорости их нанесения, толщины и ее равномерности, поверхностного сопротивления), который проводится с помощью специальных приборов, как при выполнении отдельных технологических операций, так и по завершении всего процесса.
Методы ионно-плазменного и магнетронного напыления находят широкое применение в современной микроэлектронике. Высокие скорости напыления и энергия падающих на подложку атомов в процессе напыления позволяют использовать эти методы для получения пленок различного состава и структуры, и, в частности, для низкотемпературной эпитаксии
Введение
1.Термическое вакуумное напыление
1.1 Резистивное напыление
1.2 Индукционное напыление
1.3 Электронно-лучевое напыление
1.4 Лазерное напыление
1.5 Электродуговое напыление
2. Распыление ионной бомбардировкой
2.1 Катодное распыление
2.2 Магнетронное распыление
2.3 Высокочастотное распыление.
2.4 Плазмоионное распыление в несамостоятельном газовом разряде
3. Технология тонких пленок на ориентирующих подложках
3.1 Механизмы эпитаксиального роста тонких пленок
3.2 Молекулярно-лучевая эпитаксия
Заключение
Тонкие пленки, наносимые в вакууме, широко применяются в производстве дискретных полупроводниковых приборов и интегральных микросхем (ИМС).
Получение высококачественных и воспроизводимых по электрофизическим параметрам тонкопленочных слоев является одним из важнейших технологических процессов формирования структур как дискретных диодов и транзисторов, так и активных и пассивных элементов ИМС.
Таким образом, от совершенства технологических процессов нанесения тонких пленок в значительной степени зависят надежность и качество изделий микроэлектроники, технический уровень и экономические показатели их производства.
Тонкопленочная технология базируется на сложных физико-химических процессах и применении различных металлов и диэлектриков. Так, тонкопленочные резисторы, электроды конденсаторов и межсоединения выполняют осаждением металлических пленок, а межслойную изоляцию и защитные покрытия – диэлектрических.
Важным этапом является контроль параметров тонких пленок (скорости их нанесения, толщины и ее равномерности, поверхностного сопротивления), который проводится с помощью специальных приборов, как при выполнении отдельных технологических операций, так и по завершении всего процесса.
Методы ионно-плазменного и магнетронного напыления находят широкое применение в современной микроэлектронике. Высокие скорости напыления и энергия падающих на подложку атомов в процессе напыления позволяют использовать эти методы для получения пленок различного состава и структуры, и, в частности, для низкотемпературной эпитаксии
Похожие материалы
Вакуумное напыление-Закономерности испарения и кондетсации металлов в вакууме
VikkiROY
: 20 октября 2012
ВВЕДЕНИЕ
Интенсивное развитие метода испарения и конденсации в вакууме за последние годы обусловлено универсальностью технологии, высокой производительностью процесса нанесения покрытий, малой энергоёмкостью и рядом других преимуществ по сравнению с традиционными методами получения покрытий различного функционального назначения (гальваническим осаждением, плакированием, плазменным напылением, катодным распылением). Одно из основных преимуществ метода испарения и конденсации в вакууме – экологиче
15 руб.
Другие работы
Проект "Деньги и их роль в экономике" План-конспект занятия по дисциплине «Экономика»
Света5
: 18 июня 2018
Дисциплина: Методика преподавания экономики
План-конспект занятия по дисциплине «Экономика»
Тема: Деньги и их роль в экономике
СИБИТ 2018
Оценка: отлично
150 руб.
Проектирование привода к цепному конвейеру
Рики-Тики-Та
: 11 ноября 2011
Содержание
1 Введение 4
2 Выбор электродвигателя и кинематический расчёт 5
3 Расчёт 1-й плоскоременной передачи 8
4 Расчёт 2-й червячной передачи 13
4.1 Проектный расчёт 13
4.2 Проверочный расчёт по контактным напряжениям 17
4.3 Проверка зубьев передачи на изгиб 17
5 Расчёт 3-й зубчатой цилиндрической передачи 19
5.1 Проектный расчёт 19
5.2 Проверочный расчёт по контактным напряжениям 22
5.3 Проверка зубьев передачи на изгиб 22
6 Предварительный расчёт валов 26
6.1 Ведущий вал. 26
6.2 2-й вал. 2
55 руб.
Инженерная графика. Задание №69. Вариант №17. Соединение болтовое
Чертежи
: 27 марта 2020
Все выполнено в программе КОМПАС 3D v16.
Боголюбов С.К. Индивидуальные задания по курсу черчения.
Задание 69. Вариант 17. Соединение болтовое.
Пользуясь приведёнными условными соотношениями, построить изображения соединения деталей болтом. Размер L подобрать по ГОСТ 7798-70 так, чтобы обеспечить указанное значение К (см. Приложения).
В состав работы входит один файл, помещенный в архив – чертеж болтового соединения соответствующего варианта, все расчеты и названия используемых стандартных из
65 руб.
Расчет и конструирование монолитного ребристого железобетонного перекрытия
Qiwir
: 17 апреля 2013
Содержание:
Расчетная часть:
Ребристое монолитное перекрытие с балочными плитами.
Графическая часть:
Маркировочная схема перекрытия; Эпюра несущей способности сечения; Армирование плиты; Эпюра моментов, Арматурный каркас Кр 1; Арматурный каркас Кр2.
77 руб.