5

Физические измерения в микроэлектронике

ID: 75135
Дата закачки: 13 Сентября 2012
Продавец: ostah (Напишите, если есть вопросы)
    Посмотреть другие работы этого продавца

Тип работы: Пособие
Форматы файлов: Adobe Acrobat (PDF)

Описание:
В монографии систематизированы физические методы исследования структуры, фазового состава, электрофизических свойств материалов и многослойных тонкопленочных структур, используемых в микроэлектронике для создания СБИС, а также функционального контроля микросхем. Представлены результаты по применению различных методов контроля на различных этапах разработки изделий электронной техники и показано их место в технологическй цепочке создания СБИС.
Предназначена для научных и инженерно-технических работников, занимающихся разработкой технологии создания СБИС с субмикронными размерами, а также для преподавателей, студентов и аспирантов вузов физических, физико-химических и технологических специальностей.

Размер файла: 2,8 Мбайт
Фаил: (.rar)

Скачать

Добавить в корзину

Занесено в корзину

    Скачано: 1         Коментариев: 0

Есть вопросы? Посмотри часто задаваемые вопросы и ответы на них.
Опять не то? Мы можем помочь сделать!

Некоторые похожие работы:

Физические основы электроники. Лабораторная работа №1. "Исследование статических характеристик полупроводниковых диодов". Все варианты
Физические основы электроники. Лабораторная работа №3. "Исследование статических характеристик и параметров полевых транзисторов". Все варианты
Цифровой осциллограф
Физические основы электроники. Лабораторная работа №2. "Исследование статических характеристик биполярного транзистора". Все варианты
Реферат на тему: «Современные Тахеометры»
Микроэмульсионный метод получения оксида цинка
Беляев А.Е., Конакова Р.В (ред.) Физические методы диагностики в микро - и наноэлектронике
Ещё искать по базе с такими же ключевыми словами.