Страницу Назад
Поискать другие аналоги этой работы
![]() Беляев А.Е., Конакова Р.В (ред.) Физические методы диагностики в микро - и наноэлектроникеID: 81750Дата закачки: 29 Октября 2012 Закачал: alfFRED (Напишите, если есть вопросы) Посмотреть другие работы этого продавца Тип работы: Пособие Описание: Харьков: ИСМА. 2011. - 284 с. ISBN 978-966-02-5859-4 Монография охватывает базовые физические методы диагностики в микроэлектронике: методы рентгеновской дифракционной диагностики полупроводниковых материалов и структур для СБИС и ряда дискретных полупроводниковых приборов, а также полупроводниковых структур с квантовыми точками, квантовыми ямами и сверхрешетками; методы электронной микроскопии, Оже-электронной спектрометрии, РФЭС, ВИМС и обратного резерфордовского рассеяния, а также ряд зондовых методов в диагностике контактной металлизации и электрофизических параметров полупроводниковых материалов; теплофизические методы в диагностике микроволновых диодов и светодиодов. Значительное внимание уделено методам математического моделирования механизмов токопереноса в контактах металл-полупроводник с высокой плотностью дислокаций в приконтактной области полупроводника и физико-статистическому моделированию отказов. Содержание: - Методы рентгеновской дифракционной диагностики кристаллов, гетероструктур и приборных структур полупроводников - Методы электронной микроскопии, электронной и ионной спектроскопии в диагностике полупроводниковых материалов и структур - Методы и средства неразрушающего контроля качества полупроводниковых изделий по их тепловым параметрам - Зондовые методы измерений параметров полупроводниковых материалов и структур - Механизмы формирования контактного сопротивления омических контактов металл—полупроводник. Теоретическое моделирование - Физико-статистическое моделирование отказов в задачах диагностики полупроводниковых приборов Размер файла: 5,5 Мбайт Фаил: ![]()
Скачано: 1 Коментариев: 0 |
||||
Есть вопросы? Посмотри часто задаваемые вопросы и ответы на них. Опять не то? Мы можем помочь сделать!
К сожалению, точных предложений нет. Рекомендуем воспользоваться поиском по базе. |
||||
Не можешь найти то что нужно? Мы можем помочь сделать! От 350 руб. за реферат, низкие цены. Спеши, предложение ограничено ! |
Вход в аккаунт:
Страницу Назад
Cодержание / Книги, учебники, методические пособия / Беляев А.Е., Конакова Р.В (ред.) Физические методы диагностики в микро - и наноэлектронике