Лабораторная работа №1. Определение длины электромагнитной волны методом дифракции. Фраунгофера. Вариант №8
Состав работы
|
|
|
|
Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
- Microsoft Word
Описание
НАСТОЯТЕЛЬНО ПРОШУ НЕ СПИСЫВАТЬ ПОДЧИСТУЮ, а ИЗМЕНИТЬ ХОТЬ ЧТО-ТО, т.к. работа была сдана недавно (просто перепишите формулы в другом редакторе/другим шрифтом и сделайте свои скриншоты, повторяя то, что сделано в работе)!
Уважаемый студент дистанционного обучения,
Оценена Ваша работа по предмету: Физика (часть 2)
Вид работы: Лабораторная работа 2
Оценка:Зачет
Дата оценки: 04.03.2021
Рецензия:Уважаемый ------, Ваша лабораторная работа # 4 проверена повторно. Экспериментальный результат правильный. В ответах на контрольные вопросы ошибки не найдены.
Работа ЗАЧТЕНА.
Уважаемый студент дистанционного обучения,
Оценена Ваша работа по предмету: Физика (часть 2)
Вид работы: Лабораторная работа 2
Оценка:Зачет
Дата оценки: 04.03.2021
Рецензия:Уважаемый ------, Ваша лабораторная работа # 4 проверена повторно. Экспериментальный результат правильный. В ответах на контрольные вопросы ошибки не найдены.
Работа ЗАЧТЕНА.
Дополнительная информация
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
4. Задание
Выполняется по вариантам.
Вариант
Сила тока, мА
Установить силу тока через образец в соответствии с вариантом. Записать силу тока в отчет по лабораторной работе.
Изменяйте температуру образца от 250С до 800С через 50С, каждый раз записывая напряжение на образце. Полученные данные занесите в таблицу в отчете по лабораторной работе.
Вычислить по формуле (10) электропроводности образца при всех температурах. Прологарифмировать полученные значения электропроводности.
Вычислите абсолютные температуры образца Т= t+273, К. Все данные занесите в таблицу измерений.
Построить график зависимости lns от 1/ Т.
На графике выбрать две точки в диапазоне температур от 400С до 800С. Определить для этих точек по графику величины lns и 1/ T и вычислить по формуле (8) ширину запрещенной зоны полупроводника.
5. Контрольные вопросы
Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости lns от 1 / T .?
Вывести формулу для вычисления ширины запрещенной зоны полупроводника.
6. Литература
Савельев И.В. Курс общей физики.- М.: Наука, 1979,- т.3,§ 57,58,59.
Айзенцон А.Е. Курс физики.- М.: Высшая школа, 1996.- Гл.19 § 19.3
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
4. Задание
Выполняется по вариантам.
Вариант
Сила тока, мА
Установить силу тока через образец в соответствии с вариантом. Записать силу тока в отчет по лабораторной работе.
Изменяйте температуру образца от 250С до 800С через 50С, каждый раз записывая напряжение на образце. Полученные данные занесите в таблицу в отчете по лабораторной работе.
Вычислить по формуле (10) электропроводности образца при всех температурах. Прологарифмировать полученные значения электропроводности.
Вычислите абсолютные температуры образца Т= t+273, К. Все данные занесите в таблицу измерений.
Построить график зависимости lns от 1/ Т.
На графике выбрать две точки в диапазоне температур от 400С до 800С. Определить для этих точек по графику величины lns и 1/ T и вычислить по формуле (8) ширину запрещенной зоны полупроводника.
5. Контрольные вопросы
Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости lns от 1 / T .?
Вывести формулу для вычисления ширины запрещенной зоны полупроводника.
6. Литература
Савельев И.В. Курс общей физики.- М.: Наука, 1979,- т.3,§ 57,58,59.
Айзенцон А.Е. Курс физики.- М.: Высшая школа, 1996.- Гл.19 § 19.3
Похожие материалы
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
Илья272
: 21 мая 2021
1. Цель работы.
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона...................................................................................................................................................................................................................................
350 руб.
«Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера»
autotransport
: 10 мая 2020
Лабораторная работа. «Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера»
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями (например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и св
100 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера.
bertone
: 3 января 2014
Лабораторная работа 7.3
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера.
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями (например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и св
250 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
4eJIuk
: 4 мая 2011
Лабораторная работа по физике 7.3 Вариант №3 Семестр №2
Определение длины электромагнитной волны
методом дифракции Фраунгофера
Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
70 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
salut135
: 8 апреля 2011
Лабораторная работа 7.3
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел.....
3. Описание лабораторной устан
45 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
qawsedrftgyhujik
: 15 декабря 2010
Лабораторная работа 7.3 физика.2семестр2вариант
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрическ
70 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера.
sibgutimts
: 13 июня 2010
Лаб. раб. № 7.3.
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. В частности, дифракц
50 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
rdt092sei
: 6 июня 2010
Цель работы:
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
Теоретические сведения:
Дифракция – совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. Дифракция приводит к огибанию световыми волнами препятствий и проникновению света в область геометрической тени. Явление дифракции за
Другие работы
Контрольная работа по дисциплине: Программное обеспечение схематических устройств. Вариант 8
xtrail
: 27 июля 2024
Задание 3
1. Преобразовать восьми- и шестнадцатеричные числа в двоичную систему счисления:
а) E07,D3A(16);
б) А1F,02C(16);
в) 6472.105(8);
г) B1C,1E7(16);
д) 412,576(8);
е) 7356,041(8);
2. Перевести в десятичную систему счисления:
а) D084C(16); б) 753,14(8); в) 1110100111101(2);
г) 70A0B(16); д) 407,05(8); е) 1001011101011(2);
ж) DA310(16); з) 731,15(8); и) 1110010110111(2).
3. Пользуясь правилом де Моргана преобразовать выражение и составить структурную схему в базисе И-НЕ:
(X1+X2)*(X1+X2
500 руб.
Возможности использования облачных сервисов при проектировании РЗА
Qiwir
: 2 июля 2013
Проектирование релейной защиты и противоаварийной автоматики электрических станций и подстанций представляет из себя довольно трудоемкий процесс, включающий два вида работ:
рутинная работа, которая занимает примерно 70-80 % времени
творческие работы, которые занимают соответственно 30-20 % времени.
В связи со сказанным представляется целесообразно рутинную работу алгоритмизировать, разработать для нее программы или процедуры и за счет внедрения этих программ повысить производительность труда про
10 руб.
Статистический анализ инвестиционных и инновационных процессов в отрасли (регионе, стране)
OstVER
: 12 ноября 2012
Аннотация
инвестиционный инновационный статистический
Курсовая работа состоит из теоретической и аналитической частей.
В теоретической части рассмотрены понятие и сущность инвестиционных и инновационных процессов, система статистических показателей инвестиционных и инновационных процессов и источники статистической информации. Объем теоретической части составляет 10 страниц.
В аналитической части изучены динамика и структура инвестиционных и инновационных процессов в Новосибирской области за пер
5 руб.
Алюминиевые бурильные трубы (АБТ). Курсовая работа-Оборудование для бурения нефтяных и газовых скважин
https://vk.com/aleksey.nakonechnyy27
: 13 марта 2016
Основные требования к конструкции ЛБТПН оговорены в стандарте ISO 15546 «Бурильные трубы из алюминиевых сплавов для нефтяной и газовой промышленности», который введен в действие с 2002 года и ТОСТ 23786-79 «Трубы бурильные из алюминиевых сплавов».
ЛБТПН включает собственно трубу из алюминиевого сплава и стальной замок, муфта и ниппель которого с помощью специальной резьбы типа ТТ, имеющей стабилизирующий поясок и упорный торец, присоединены к концам трубы. Данное соединение выполняется путём «те
1988 руб.