Лабораторная работа №7.3. Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера

Цена:
40 руб.

Состав работы

material.view.file_icon 746970F7-0D60-47AB-837E-EA26836503F4.rar [263 KB]
material.view.file_icon ЛР.docx [Office 2010, 14 стр., 287 KB]

Необходимые программы

Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
  • Microsoft Word

Описание

1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. В частности, дифракция приводит к огибанию световыми волнами препятствий и проникновению света в область геометрической тени. Явление дифракции заключается в перераспределении светового потока в результате суперпозиции волн, возбуждаемых когерентными источниками, расположенными непрерывно.

Дополнительная информация

Оценена Ваша работа по предмету: Физика (2 сем.)
Вид работы: Лабораторная работа 1
Оценка:Зачет
Дата оценки: 2013
Рецензия:Уважаемый........................, Ваша лабораторная работа 4 проверена. Экспериментальный результат правильный.
Работа зачтена.
Стрельцов Александр Иванович

Похожие материалы

Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
1. Цель работы. Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона...................................................................................................................................................................................................................................
******* Не известно Физика Работа Лабораторная
User Илья272 : 21 мая 2021
350 руб.
«Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера»
Лабораторная работа. «Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера» 1. Цель работы Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона. 2. Основные теоретические сведения Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями (например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и св
ДО СИБГУТИ Физика Работа Лабораторная
User autotransport : 10 мая 2020
100 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера.
Лабораторная работа 7.3 Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера. 1. Цель работы Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона 2. Основные теоретические сведения Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями (например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и св
СибГУТИ Физика Работа Лабораторная
User bertone : 3 января 2014
250 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
Лабораторная работа по физике 7.3 Вариант №3 Семестр №2 Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера Цель работы Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
СибГУТИ Работа Лабораторная Физика. Физика математическая
User 4eJIuk : 4 мая 2011
70 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
Лабораторная работа 7.3 Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера 1. Цель работы Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона 2. Основные теоретические сведения Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел..... 3. Описание лабораторной устан
СибГУТИ Работа Лабораторная Физика. Физика математическая
User salut135 : 8 апреля 2011
45 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
Лабораторная работа 7.3 физика.2семестр2вариант 1. Цель работы Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона. 2. Основные теоретические сведения Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрическ
СибГУТИ Работа Лабораторная Физика. Физика математическая
User qawsedrftgyhujik : 15 декабря 2010
70 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера.
Лаб. раб. № 7.3. 1. Цель работы Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона 2. Основные теоретические сведения Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. В частности, дифракц
СибГУТИ Работа Лабораторная Физика. Физика математическая
User sibgutimts : 13 июня 2010
50 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
Цель работы: Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона. Теоретические сведения: Дифракция – совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. Дифракция приводит к огибанию световыми волнами препятствий и проникновению света в область геометрической тени. Явление дифракции за
СибГУТИ Работа Лабораторная Физика. Физика математическая
User rdt092sei : 6 июня 2010

Другие работы

Зачет по дисциплине: «Языки программирования высокого уровня в технике связи». Билет 2.
1. Поясните, для чего предназначен компнент TEdit
Программирование на языках высокого уровня ДО СИБГУТИ Работа Зачетная
User teacher-sib : 25 ноября 2016
200 руб.
Курсовая работа по дисциплине: Основы мультимедийных технологий. Вариант №15
Принцип работы сканеров и их характеристики. Введение 3 1. Понятие и принцип работы сканера 4 2. Основные характеристики сканеров 5 3. Типы сканеров 9 3.1. Планшетные сканеры 9 3.2. Роликовые сканеры 10 3.3. Барабанные сканеры 12 3.4. Проекционные сканеры 14 3.5. Ручные сканеры 15 3.6. Многофункциональные сканеры 16 4. Аппаратный и программный интерфейсы сканеров 18 Заключение 19 Список использованной литературы 20
ДО СИБГУТИ Основы мультимедийных технологий Работа Курсовая
User djo : 13 мая 2021
300 руб.
СибГУТИ РГР по дисциплине «Интерфейсы и протоколы телекоммуникационных систем» «Проект корпоративной сети связи» Вариант 12
Вариант 12 Общее количество точек подключения к сети, шт 290 Доля аппаратных IP телефонов, % 11 Доля СЛ к ТфОП, % 14 Минимальная требуемая полоса пропускания для WS, Мбит/с 2,5 Количество серверов, шт 3 Количество зданий, шт 3 Расстояние между зданиями, 350 Количество этажей в здании 3 Вид доступа в Интернет Eth/Opt/100
Работа Расчетно-графическая СибГУТИ Интерфейсы и протоколы телекоммуникационных систем
User blastimoza : 15 февраля 2026
250 руб.
СибГУТИ РГР по дисциплине «Интерфейсы и протоколы телекоммуникационных систем» «Проект корпоративной сети связи» Вариант 12
Архитектура вычислительных систем. Экзаменационная работа. Билет №6
Билет №6 Вопрос №1 При каких условиях возникает структурная коллизия? Какие существуют программные и аппаратные способы для устранения структурной коллизии? Вопрос №2 Какие существуют классификации вычислительных систем? Какие существуют классификации вычислительных систем с параллельной архитектурой? Задача 1 Гипотетический RISC микропроцессор имеет регистровый файл, в котором всего 186 регистров, из которых 18 - глобальные. В каждом из 6 окон есть 8 регистров для локальных переменных. Сколько
ДО СИБГУТИ Архитектура вычислительных систем Работа Экзаменационная
User Bodibilder : 24 марта 2019
55 руб.
up Наверх