Колодка для испытания транзистора 02.37.00.00

Цена:
1000 руб.

Состав работы

material.view.file_icon 0402BE53-CDE7-4702-9A11-734542027A5B.rar [871 KB]
material.view.file_icon 02.37 КДИТ
material.view.file_icon 01 Штепсель.cdw [КОМПАС v13, 103 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 01 Штепсель.m3d [КОМПАС v13, 128 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 02 Крышка.cdw [КОМПАС v13, 103 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 02 Крышка.m3d [КОМПАС v13, 119 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 03 Плата печатная.cdw [КОМПАС v13, 106 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 03 Плата печатная.m3d [КОМПАС v13, 129 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 04 Крышка зажима.cdw [КОМПАС v13, 92 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 04 Крышка зажима.m3d [КОМПАС v13, 85 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 05 Пружина.cdw [КОМПАС v13, 81 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 05 Пружина.m3d [КОМПАС v13, 195 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 06 Упор.cdw [КОМПАС v13, 79 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 06 Упор.m3d [КОМПАС v13, 62 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 07 Зажим.cdw [КОМПАС v13, 113 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 07 Зажим.m3d [КОМПАС v13, 147 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 08 Винт М5.cdw [КОМПАС v13, 82 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 08 Винт М5.m3d [КОМПАС v13, 490 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 09 Леписток.cdw [КОМПАС v13, 105 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 09 Леписток.m3d [КОМПАС v13, 104 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 10 Корпус.cdw [КОМПАС v13, 252 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 10 Корпус.m3d [КОМПАС v13, 262 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 11 Планка.cdw [КОМПАС v13, 89 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon 11 Планка.m3d [КОМПАС v13, 74 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon Колодка для испытания транзистора 02.37.00.00 СП.cdw [КОМПАС v13, 127 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon Колодка для испытания транзистора _ 02.37.00.00 сб.cdw [КОМПАС v13, 282 KB] material.view.thumbnail_available
material.view.file_icon Колодка для испытания транзистора _ 02.37.00.00.a3d [КОМПАС v13, 362 KB] material.view.thumbnail_available

Дополнительная информация

material.view.file_icon 01 Штепсель.cdw
01 Штепсель.cdw
material.view.file_icon 01 Штепсель.m3d
01 Штепсель.m3d
material.view.file_icon 02 Крышка.cdw
02 Крышка.cdw
material.view.file_icon 02 Крышка.m3d
02 Крышка.m3d
material.view.file_icon 03 Плата печатная.cdw
03 Плата печатная.cdw
material.view.file_icon 03 Плата печатная.m3d
03 Плата печатная.m3d
material.view.file_icon 04 Крышка зажима.cdw
04 Крышка зажима.cdw
material.view.file_icon 04 Крышка зажима.m3d
04 Крышка зажима.m3d
material.view.file_icon 05 Пружина.cdw
05 Пружина.cdw
material.view.file_icon 05 Пружина.m3d
05 Пружина.m3d
material.view.file_icon 06 Упор.cdw
06 Упор.cdw
material.view.file_icon 06 Упор.m3d
06 Упор.m3d
material.view.file_icon 07 Зажим.cdw
07 Зажим.cdw
material.view.file_icon 07 Зажим.m3d
07 Зажим.m3d
material.view.file_icon 08 Винт М5.cdw
08 Винт М5.cdw
material.view.file_icon 08 Винт М5.m3d
08 Винт М5.m3d
material.view.file_icon 09 Леписток.cdw
09 Леписток.cdw
material.view.file_icon 09 Леписток.m3d
09 Леписток.m3d
material.view.file_icon 10 Корпус.cdw
10 Корпус.cdw
material.view.file_icon 10 Корпус.m3d
10 Корпус.m3d
material.view.file_icon 11 Планка.cdw
11 Планка.cdw
material.view.file_icon 11 Планка.m3d
11 Планка.m3d
material.view.file_icon Колодка для испытания транзистора 02.37.00.00 СП.cdw
Колодка для испытания транзистора 02.37.00.00 СП.cdw
material.view.file_icon Колодка для испытания транзистора _ 02.37.00.00 сб.cdw
Колодка для испытания транзистора _ 02.37.00.00 сб.cdw
material.view.file_icon Колодка для испытания транзистора _ 02.37.00.00.a3d
Колодка для испытания транзистора _ 02.37.00.00.a3d

Необходимые программы

Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
  • Компас или КОМПАС-3D Viewer (версия v13 или новее)

Описание

Колодка для испытания транзистора 02.37.00.00

Колодка является контактирующим устройством для испытания транзистора. Она состоит из корпуса 10, крышки 2, зажима 7, печатной платы и других деталей.. Корпус, выполненный из алюминевого сплава, имеет ребристую форму, что позволяет ему выполнить функции радатиатора.
При испытании транзистор закладывается между печатной платой и зажимом. Упоры 6 прижимают выводы транзистора к печатному проводнику платы, создавая надежный контакт. Колодка вставляется в специальную розетку, к которой подключены измерительные приборы.

Колодка для испытания транзистора СБ
Колодка для испытания транзистора спецификация
Колодка для испытания транзистора 3d модель
Колодка для испытания транзистора чертежи
Колодка для испытания транзистора 02.37.00.00
Штепсель 02.37.00.01
Крышка 02.37.00.02
Плата печатная 02.37.00.03
Крышка зажима 02.37.00.04
Пружина 02.37.00.05
Упор 02.37.00.06
Зажим 02.37.00.07
Винт М5 02.37.00.08
Лепесток 02.37.00.09
Корпус 02.37.00.10
Планка 02.37.00.11

Все чертежи и 3d модели (все на скриншотах показано и присутствует в архиве) выполнены в компасе 3D.

Также открывать и просматривать, печатать чертежи и 3D-модели, выполненные в КОМПАСЕ можно просмоторщиком КОМПАС-3D Viewer.

По другим вариантам и всем вопросам пишите в Л/С. Отвечу и помогу.

Другие работы

Лабораторная работа №4 (3.5) по дисциплине: Метрология, стандартизация, сертификация. Вариант 03
1. Цель работы. 1.1. Изучить принцип работы и структурную схему универсального электронно-лучевого осциллографа. 1.2. Получить практические навыки работы с электронно-лучевым осциллографом и измерительными генераторами. 1.3. Приобрести навыки измерения временных интервалов, напряжения, периода и частоты различных электрических сигналов с помощью электронного осциллографа. 1.4. Освоить методику оценки погрешности измерений, выполняемых с помощью осциллографа и получить навыки оформления результат
ДО СИБГУТИ Метрология и стандартизация Работа Лабораторная
User Roma967 : 23 октября 2016
450 руб.
promo
Расчет структурно-алгоритмической схемы системы автоматического регулирования
Математические модели, используемые при выполнении курсовой работы 1. По заданным математическим моделям получить структурно-алгоритмическую схему системы автоматического регулирования 2. Определить передаточные функции разомкнутой системы Y(p) / G(p), замкнутой системы Y(p) / G(p), Y(p) / F(p), E(p) / G(p), E(p) / F(p) 3. Для заданных исходных данных построить область устойчивости системы в плоскости параметров регулятора 4. Для заданной допустимой ошибки регулирования 5% определить значени
Коммуникац.оборудование, системы и сети Работа Курсовая
User alfFRED : 16 сентября 2013
10 руб.
Информатика. Экзамен. Билет 9
Информатика, экзаменационная работа Билет 9 1. Basic. Условный оператор IF. Привести примеры использования. 2. Составьте программу для вычисления средних значений отрицательных элементов каждого столбца матрицы.
СибГУТИ Информатика Работа Курсовая
User sibgutido : 27 февраля 2012
115 руб.
Основные проблемы пакистано-афганских отношений после терактов 11 сентября 2001
В свое время Движение талибов (ДТ) в Афганистане было создано при активном участии пакистанской разведки (ISI), при этом Исламабад надеялся, что с приходом ДТ к власти он получит контроль над политикой Кабула. Как показало время, надежды пакистанских военных и политических кругов не оправдались. После терактов в США 11 сентября 2001 г. Военный режим П.Мушаррафа стоял перед выбором: поддержать антитеррористическую кампанию и пойти против распространенных в стране настроений или подвергнуться еще
Международные отношения и мировая экономика Рефераты
User Elfa254 : 12 сентября 2013
10 руб.
up Наверх