Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников

Цена:
70 руб.

Состав работы

material.view.file_icon
material.view.file_icon Лабораторнаяработа6.8физика.2семестр2вариант.doc
Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
  • Microsoft Word

Описание

Изучение температурной зависимости
электропроводности полупроводников
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
2. Теоретическое введение
Электропроводность материалов определяется выражением:
где q+ и q- - соответственно величина заряда положительных и отрицательных носителей электрического заряда, n+ и n- - концентрация соответственно положительных и отрицательных носителей заряда, μ+ и μ- - подвижности положительных и отрицательных носителей заряда.
В нашей задаче исследуется собственная электропроводность полупроводника. Поэтому положительными носителями заряда являются дырки, а отрицательными- электроны. Следовательно,
Задание

1.Установить силу тока через образец в пределах от 3 до 10 мА. Записать силу тока в отчет по лабораторной работе.
2.Изменяйте температуру образца от 250С до 800С через 50С, каждый раз записывая напряжение на образце. Полученные данные занесите в таблицу в отчете по лабораторной работе.
3.Вычислить по формуле (10) электропроводности образца при всех температурах. Прологарифмировать полученные значения электропроводности.
4.Вычислите абсолютные температуры образца Т= t+273, К. Все данные занесите в таблицу измерений.
5.Построить график зависимости ln от .
6.На графике выбрать две точки в диапазоне температур от 400С до 800С. Определить для этих точек по графику величины ln от и вычислить по формуле (8) ширину запрещенной зоны полупроводника.
Выводы: В результате выполненной работы и на основе полученных результатов можно сделать вывод, что удельная проводимоть полупроводников с повышением температуры растет и если представить зависимость ln от , то это прямая, по наклону которой определяется ширина запрещенной зоны, которая равна

Дополнительная информация

2010год, Грищенко И В.,Зачет.
«Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников»
1. Цель работы Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны.........................................
User Илья272 : 21 мая 2021
350 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Лабораторная работа 6.8 «Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников» 1. Цель работы Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
User chita261 : 8 января 2015
100 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Цель работы: изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны Теоретические сведения и ход работы: В нашей работе исследуется собственная электропроводность полупроводника. Поэтому положительными носителями заряда являются дырки, а отрицательными- электроны. Следовательно, |q+| = |q-| = e и, поскольку полупроводник собственный, то n += n- = n Тогда (2)
User Murlishka : 6 сентября 2011
40 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Лабораторная работа 6.8. Вариант №10 Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников 1. Цель работы: Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны Вывод: С ростом температуры электропроводность полупроводников увеличивается по экспоненциальному закону.
User AndrewZ54 : 23 марта 2011
43 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников Цель работы Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны ВЫВОД В ходе лабораторной работы изучил зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определил ширину запрещенной зоны ( ) Контрольные вопросы 1. Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника. 2. Почему для проверки температурной зависимости электропр
User DenKnyaz : 14 декабря 2010
50 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников 1. Цель работы Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны Вывод: В этой работе изучили зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определили ширину запрещенной зоны для полупроводника. Выяснили, что результаты соответствуют справочным данным и построенный график является прямой, что и требовалось доказать.
User vereney : 25 ноября 2010
30 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Лабораторная работа 6.8 2сем вариант 7. 1. Цель работы Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны. Контрольные вопросы 1.Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника. 2.Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости от 1 / T .? 3.Вывести формулу для вычисления ширины запрещенной зоны полупроводника.
User gerold66 : 22 октября 2009
49 руб.
Физика. Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Вариант 09 Сила тока в соответствии с вариантом равна 9.4
User Саша78 : 9 апреля 2020
100 руб.
Информационно-аналитические системы (Ответы на тест СИНЕРГИЯ / МТИ / МОИ)
Ответы на тест Информационно-аналитические системы - СИНЕРГИЯ, МОИ, МТИ. Результат сдачи - 100-100 баллов. Дата сдачи свежая. Вопросы к тесту: Основной задачей оперативного анализа, или OLAP-анализа, является … извлечение информации ВАРИАНТ ОТВЕТА: Одиночный выбор быстрое первичное вторичное медленное … предполагает, что данные не обновляются в оперативном режиме, а лишь регулярно пополняются из систем оперативной обработки данных ВАРИАНТ ОТВЕТА: Одиночный выбор Интегрированность данн
User AnastasyaM : 4 февраля 2024
250 руб.
Информационно-аналитические системы (Ответы на тест СИНЕРГИЯ / МТИ / МОИ)
ЭВМ и периферийные устройства.Экзамен. Билет №10
Билет 10 1. Вопрос по лекционному курсу Основные стадии выполнения команды. Способы адресации. Примеры адресации на языке Ассемблера 2. Написать фрагмент программы на языке Ассемблера Циклическое вычисление выражения S=1-2+3-4+5-6+7 и вывод результата на экран Решение 1. Вопрос по лекционному курсу Основные стадии выполнения команды. Способы адресации. Примеры адресации на языке Ассемблера
User tefant : 4 июля 2013
299 руб.
290 руб.
Шпаргалки по физике (Для студентов заочных отделений)
ВОПРОСЫ ПО ФИЗИКЕ – часть 1 1. Механическое движение. Система отсчета. Материальная точка. Траектория. Перемещение и путь. Скорость. Средняя и мгновенная скорость. 2. Ускорение. Тангенциальное и нормальное ускорения. Уравнения кинематики поступательного движения. Равноускоренное движение. Графики зависимости пути и скорости от времени. 3. Движение материальной точки по окружности. Угловая скорость и угловое ускорение. Уравнения кинематики вращательного движения. Связь между линейными
User anderwerty : 16 октября 2014
300 руб.
up Наверх