Структура твердотельных интегральных микросхем
Состав работы
|
|
|
|
Необходимые программы
Работа представляет собой zip архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
- Microsoft Word
Описание
Содержание
Введение
1. Основные виды структур ИМС
1.1 Гибридные и совмещенные интегральные микросхемы
2. Степень интеграции
2.1 Факторы, ограничивающие степень интеграции
3. Причины ограничивающие минимальные размеры интегральных микросхем
4. Микросборка оптоэлектронные ИМС
Литература
Введение
Твердотельная интегральная микросхема – это законченный функциональный электронный узел, элементы которого конструктивно не разделены и изготавливаются в едином технологическом процессе, в объеме и на поверхности полупроводникового кристалла.
Процесс создания полупроводниковой микросхемы сводится к формированию в приповерхностном слое полупроводниковой пластины элементов (транзисторов, диодов, резисторов) и к последующему их объединению в функциональную схему пленочными проводниками по поверхности пластины (межсоединения).
Для характеристики типа применяемых в ИМС транзисторов, а также технологических методов их изготовления пользуются понятием структура ИМС. В общем случае структура ИМС определяет последовательность слоев в составе микросхемы по нормали к поверхности кристалла, различающихся материалов, толщиной и электрофизическими свойствами. Так, в практике производства ИМС используют структуры на биполярных транзисторах (в частности, диффузионно-планарные, эпитаксиально-планарные и др.) на МДП-приборах, структуры И2Л и т. д. Заданная структура ИМС позволяет установить состав и последовательность технологических методов обработки пластины и определить технологические режимы для каждого метода.
Введение
1. Основные виды структур ИМС
1.1 Гибридные и совмещенные интегральные микросхемы
2. Степень интеграции
2.1 Факторы, ограничивающие степень интеграции
3. Причины ограничивающие минимальные размеры интегральных микросхем
4. Микросборка оптоэлектронные ИМС
Литература
Введение
Твердотельная интегральная микросхема – это законченный функциональный электронный узел, элементы которого конструктивно не разделены и изготавливаются в едином технологическом процессе, в объеме и на поверхности полупроводникового кристалла.
Процесс создания полупроводниковой микросхемы сводится к формированию в приповерхностном слое полупроводниковой пластины элементов (транзисторов, диодов, резисторов) и к последующему их объединению в функциональную схему пленочными проводниками по поверхности пластины (межсоединения).
Для характеристики типа применяемых в ИМС транзисторов, а также технологических методов их изготовления пользуются понятием структура ИМС. В общем случае структура ИМС определяет последовательность слоев в составе микросхемы по нормали к поверхности кристалла, различающихся материалов, толщиной и электрофизическими свойствами. Так, в практике производства ИМС используют структуры на биполярных транзисторах (в частности, диффузионно-планарные, эпитаксиально-планарные и др.) на МДП-приборах, структуры И2Л и т. д. Заданная структура ИМС позволяет установить состав и последовательность технологических методов обработки пластины и определить технологические режимы для каждого метода.
Другие работы
Метрология, стандартизация и сертификация. Лабораторная работа №1-5. Контрольная работа. Вариант №10. Зачетная работа. Билет 2
Bodibilder
: 21 мая 2019
Лабораторная работа 1
1. Цель работы.
Ознакомление с упрощенной процедурой обработки результатов прямых измерений с многократными наблюдениями. Получение, применительно к упрощенной процедуре, навыков обработки результатов наблюдений, оценка погрешностей результатов измерений и планирование количества наблюдений.
2.2. Контрольная задача.
Условие задачи
В нормальных условиях произведено пятикратное измерение частоты. Класс точности прибора γ = 0,05%, доверительная вероятность P = 0,999. Предельн
132 руб.
Тепломассообмен ТГАСУ 2017 Задача 2 Вариант 26
Z24
: 3 февраля 2026
Расчет параметров изолированного трубопровода
По трубопроводу с размерами d2/d1, где d1 — внутренний диаметр трубы, а d2 — наружный диаметр, течет горячая вода с температурой tж1. Температура окружающей среды tж2. Снаружи труба покрыта слоем изоляционного материала толщиной δ с коэффициентом теплопроводности λ2, коэффициентом теплопроводности материала трубы λ1. Средние коэффициенты теплоотдачи с внутренней поверхности трубы и внешней изоляционного материала соответственно равны α1, α2. Опред
200 руб.
Онлайн-тест по дисциплине: Современные технологии в программировании (часть 2). Помогу с онлайн тестом!
IT-STUDHELP
: 3 октября 2021
Вопрос №1
Иерархия — это _____________ система абстракций, расположение их по уровням.
Ранжированная или упорядоченная.
Связанная.
Организованная.
Вопрос №2
Архитектурные механизмы — это некоторые типовые решения (образцы), они документируются в проекте (модели):
С помощью кооперации.
С помощью диаграмм классов.
С помощью диаграмм взаимодействия.
Вопрос №3
Диаграммы взаимодействия описывают поведение взаимодействующих групп объектов в рамках:
Потока событий варианта использования.
Неко
450 руб.
Отчет по дисциплине «Многоканальные системы электросвязи»
DenKnyaz
: 5 ноября 2011
1. Что в технике электросвязи понимается под уровнями передачи?
2. Какие виды синхронизации используются в ЦСП?
3. Определить максимальную граничную частоту группового сигнала 3-х канальной системы передачи с разделением по частоте и передачей в линию одной боковой полосы частот, если групповой сигнал неинвертирован (передается верхняя боковая полоса) относительно исходного, имеющего спектр частот (0,5 ÷3,5) кГц. Значение минимальной несущей частоты равно 40 кГц, а защитный интервал между соседн
100 руб.