Физика. Лабораторная работа № 3 (6.8). Изучение температурной зависимости. Вариант № 6

Цена:
40 руб.

Состав работы

material.view.file_icon FF8342BC-D04C-4AD2-8C95-97EDC11DA34D.rar [105 KB]
material.view.file_icon Л.Р. 6.8 (физика спец. главы).doc [Office 2010, 9 стр., 189 KB]

Необходимые программы

Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
  • Microsoft Word

Описание

Лабораторная работа №6.8 вариант 6
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны.
2. Основные теоретические сведения
Электропроводностью материалов называется величина, обратная удельному сопротивлению.
3. Описание лабораторной установки
Схема лабораторной установки приведена на рис.1.
Сила тока источника (1) не зависит от сопротивления нагрузки. Нагрузкой источника является ...
4. Задание
Установить силу тока через образец в пределах от 3 до 10 мА. Записать силу тока в отчет по лабораторной работе.
5. Контрольные вопросы
Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график
Вывести формулу для вычисления ширины запрещенной зоны полупроводника.

Дополнительная информация

Коментарии: 2011 г.
Вариант 06
Проверил Грищенко И.В.
Лабораторная работа 6.8 выполнена верно. Л.Р. 6.8 зачтена.

Похожие материалы

Физика. Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Вариант 09 Сила тока в соответствии с вариантом равна 9.4
Физика Работа
User Саша78 : 9 апреля 2020
100 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников Вариант 6
Лабораторная работа №6.8 вариант 6 1. Цель работы Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны. 2. Основные теоретические сведения Электропроводностью материалов называется величина, обратная удельному сопротивлению. Электропроводность у материалов определяется выражением... 3. Описание лабораторной установки Схема лабораторной установки приведена на рис.1. Сила тока источника (1) не зависит от сопротивления нагрузки. Наг
СибГУТИ Работа Лабораторная Физика. Физика математическая
User salut135 : 8 апреля 2011
45 руб.
Лабораторная работа №3 по физике (спецглавы).Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников.10-й вариант
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников. Уважаемый слушатель, дистанционного обучения, Оценена Ваша работа по предмету: Физика (спец. главы) Вид работы: Лабораторная работа Оценка:Зачет Дата оценки: 05.2014 Рецензия:Уважаемый Ваша лабораторная работа ? 3 проверена. Экспериментальный результат правильный.
СибГУТИ Физика Работа Лабораторная
User hbifn : 17 мая 2014
50 руб.
Лабораторная работа по физике “ Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников”.
Лабораторная работа по физике No4 (работа 6.8), вариант 6. Тема работы: “ Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников”. Цель работы: Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны. Контрольные вопросы: Вопрос 1. Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника. Вопрос 2. Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости ln
СибГУТИ Работа Лабораторная Физика. Физика математическая
User ChrisTref : 19 сентября 2009
300 руб.
«Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников»
1. Цель работы Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны.........................................
******* Не известно Физика Работа Лабораторная
User Илья272 : 21 мая 2021
350 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Лабораторная работа 6.8 «Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников» 1. Цель работы Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
СибГУТИ Физика Работа Лабораторная
User chita261 : 8 января 2015
100 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Цель работы: изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны Теоретические сведения и ход работы: В нашей работе исследуется собственная электропроводность полупроводника. Поэтому положительными носителями заряда являются дырки, а отрицательными- электроны. Следовательно, |q+| = |q-| = e и, поскольку полупроводник собственный, то n += n- = n Тогда (2)
СибГУТИ Работа Лабораторная Физика. Физика математическая
User Murlishka : 6 сентября 2011
40 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Лабораторная работа 6.8. Вариант №10 Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников 1. Цель работы: Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны Вывод: С ростом температуры электропроводность полупроводников увеличивается по экспоненциальному закону.
СибГУТИ Физика и энергетика Работа Лабораторная
User AndrewZ54 : 23 марта 2011
43 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников

Другие работы

ИГ.05.02.04 - Вилка. Разрез сложный ломаный
Все выполнено в программе КОМПАС 3D v16 Вариант 2 ИГ.05.02.04 - Вилка. Разрез сложный ломаный 1. Выполнить указанный ломаный разрез. 2. Нанести размеры. В состав работы входят 4 файла: - 3D модель данной детали, расширение файла *.m3d; - ассоциативный чертеж формата А3 в двух видах с выполненным указанным ломаным разрезом, выполненный по данной 3D модели, расширение файла *.cdw; - аналогичный обычный чертеж, расширение файла *.cdw (чертеж с пометкой "к" для карандашного перечерчивания); - ана
СибГАУ Чертежи Инженерная графика
User Чертежи СибГАУ им. Решетнева : 4 ноября 2021
100 руб.
ИГ.05.02.04 - Вилка. Разрез сложный ломаный
Многоканальные телекоммуникационные системы. Экзаменационная работа. Билет 3.
Многоканальные телекоммуникационные системы Экзаменационная работа. Билет 3. 1. Тактовая частота группового сигнала ЦСП с ИКМ - ВРК равна 1000 кГц. Данная ЦСП предназначена для передачи 13 информационных со спектром (0.2÷4.4)кГц и 2-х служебных каналов. В каждом канале применяется 8-ми разрядное кодирование. Определить, в какой полосе частот канала будут наблюдаться искажения сигнала на приемной стороне. 2. Нарисовать временную диаграмму получения двоичного цифрового сигнала из квазитроичного с
СибГУТИ Телекоммуникации Работа Экзаменационная
User sibgutimts : 7 ноября 2011
350 руб.
Многоканальные телекоммуникационные системы. Экзаменационная работа. Билет 3.
Курсовая работа по дисциплине «Вычислительная математика» Вариант №9
Напряжение в электрической цепи описывается дифференциальным уравнением с начальным условием Написать программу, которая определит количество теплоты, выделяющегося на единичном сопротивлении за единицу времени. Количество теплоты определяется по формуле: . Дифференциальное уравнение решить методов Рунге-Кутта четвертого порядка с точностью 10-4 (для достижения заданной точности использовать метод двойного пересчета). Интеграл вычислить по формуле Симпсона с шагом 0.1. Для нахождения значений ф
СибГУТИ Работа Курсовая Вычислительная математика
User dubhe : 19 февраля 2015
300 руб.
Курсовая работа по дисциплине «Вычислительная математика» Вариант №9 promo
Основы схемотехники. Зачётная работа. 9-й вариант.
Выводы по лабораторной работе № 1: "Исследование резисторного каскада предварительного усиления на биполярном транзисторе". Выводы по лабораторной работе № 2: "Исследование резисторного каскада широкополосного усилителя на полевом транзисторе". Вывод по лабораторной работе № 3: "Исследование интегратора и дифференциатора на основе операционного усилителя".
СибГУТИ Основы схемотехники Работа Зачетная
User Taburet : 25 июня 2012
50 руб.
up Наверх