Лабораторная работа по физике № 2. Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
Состав работы
|
|
|
|
Работа представляет собой zip архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
- Microsoft Word
Описание
1. Цель работы:
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
4. Задание:
Выбрать линзу “Л2”, задав фокусное расстояние L от 25 до 35 см.
Получить интерференционную картину на экране.
Установить красный светофильтр. Измерить расстояние l1 от середины максимума первого порядка до середины центрального максимума по шкале экрана. Записать полученное значение в отчет по лабораторной работе.
Повторить измерения для максимума второго порядка.
Установить фиолетовый светофильтр. Повторить п.2 и п.3 для фиолетового света.
По формуле (4) рассчитать углы дифракции первого и второго порядков для красного и фиолетового цвета.
По формуле (3) рассчитать длины волн фиолетового и красного цвета. Период решетки принимается равным 5мкм. Окончательные значения длин волн вычислить как средние арифметические по максимумам первого и второго порядка одного и того же цвета. Внести полученные значения длин волн в отчет по лабораторной работе.
Сделать основные выводы по проделанной работе.
5. Контрольные вопросы:
Максимум какого наибольшего порядка может наблюдаться на данной дифракционной решетке?
Дайте понятие дифракции. В чем сущность принципа Гюйгенса- Френеля?
Расскажите об устройстве и назначении дифракционной решетки проходящего света.
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
4. Задание:
Выбрать линзу “Л2”, задав фокусное расстояние L от 25 до 35 см.
Получить интерференционную картину на экране.
Установить красный светофильтр. Измерить расстояние l1 от середины максимума первого порядка до середины центрального максимума по шкале экрана. Записать полученное значение в отчет по лабораторной работе.
Повторить измерения для максимума второго порядка.
Установить фиолетовый светофильтр. Повторить п.2 и п.3 для фиолетового света.
По формуле (4) рассчитать углы дифракции первого и второго порядков для красного и фиолетового цвета.
По формуле (3) рассчитать длины волн фиолетового и красного цвета. Период решетки принимается равным 5мкм. Окончательные значения длин волн вычислить как средние арифметические по максимумам первого и второго порядка одного и того же цвета. Внести полученные значения длин волн в отчет по лабораторной работе.
Сделать основные выводы по проделанной работе.
5. Контрольные вопросы:
Максимум какого наибольшего порядка может наблюдаться на данной дифракционной решетке?
Дайте понятие дифракции. В чем сущность принципа Гюйгенса- Френеля?
Расскажите об устройстве и назначении дифракционной решетки проходящего света.
Дополнительная информация
Комментарии: Рецензия
на лабораторную работу № 4
Выполнил: слушатель МУЦПС СибГУТИ
Проверил: старший преподаватель кафедры физики СибГУТИ А. И. Стрельцов.
Дата и время проверки: 24.01.2013 19:06:40.
Заключение: работа зачтена.
на лабораторную работу № 4
Выполнил: слушатель МУЦПС СибГУТИ
Проверил: старший преподаватель кафедры физики СибГУТИ А. И. Стрельцов.
Дата и время проверки: 24.01.2013 19:06:40.
Заключение: работа зачтена.
Похожие материалы
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
Илья272
: 21 мая 2021
1. Цель работы.
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона...................................................................................................................................................................................................................................
350 руб.
«Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера»
autotransport
: 10 мая 2020
Лабораторная работа. «Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера»
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями (например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и св
100 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера.
bertone
: 3 января 2014
Лабораторная работа 7.3
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера.
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями (например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и св
250 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
4eJIuk
: 4 мая 2011
Лабораторная работа по физике 7.3 Вариант №3 Семестр №2
Определение длины электромагнитной волны
методом дифракции Фраунгофера
Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
70 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
salut135
: 8 апреля 2011
Лабораторная работа 7.3
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел.....
3. Описание лабораторной устан
45 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
qawsedrftgyhujik
: 15 декабря 2010
Лабораторная работа 7.3 физика.2семестр2вариант
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрическ
70 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера.
sibgutimts
: 13 июня 2010
Лаб. раб. № 7.3.
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. В частности, дифракц
50 руб.
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
rdt092sei
: 6 июня 2010
Цель работы:
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
Теоретические сведения:
Дифракция – совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. Дифракция приводит к огибанию световыми волнами препятствий и проникновению света в область геометрической тени. Явление дифракции за
Другие работы
Основные принципы организации производственного процесса
evelin
: 6 ноября 2013
Введение…………………………………………………………………...……….….3
Глава 1. Производственные фонды………………………………………............…..4
1.1.Характеристика производственных фондов………………………….……....…4
1.2.Классификация, структура и оценка основных производственных фондов…………………………………………………………………………….....…4
1.3.Воспроизводство основных производственных фондов……………………….5
1.4.Производственная мощность предприятия……………………………….....…..7
1.5.Эффективность воспроизводства и использования основных фондов и производственных мощнос
10 руб.
Микропроцессоры и цифровая обработка сигнала - экзамен, билет №2
VVA77
: 20 сентября 2017
Вопрос №1.
Архитектура микроконтроллера MCS-51.
Вопрос №2.
Условные операторы на языке С.
20 руб.
Алгебра и геометрия. 1-й семестр. 4-й вариант
Antipenko2016
: 15 мая 2016
1. Решить систему уравнений методом Крамера и методом Гаусса
2. Для данной матрицы найти обратную матрицу
3. Даны векторы
Найти:
a) угол между векторами и ;
b) проекцию вектора на вектор ;
c) векторное произведение ;
d) площадь треугольника, построенного на векторах .
4. Даны координаты вершин треугольника
a) составить уравнение стороны АВ
b) составить уравнение высоты АD
c) найти длину медианы ВЕ
d) найти точку пересечения высот треугольника АВС.
5. Даны координаты вершин п
150 руб.
Новое о гравитационном константе G
Elfa254
: 9 августа 2013
Большинство физических констант связаны законами физики с другими константами. Это является решающим фактором для определения каждой константы [17]. Однако такие константы как: гравитационная константа < FONT>G, отношение масс протон-электрон mp/me, постоянная Хаббла H0 считаются не связанн ыми вообще ни с какими другими константами. В отношении важнейшей физической константы G остается надежда на то, что удастся выявить ее связь с чем-либо в рамках будущей единой теории, которая должна объед ин