Адаптивный микроэлектронный сенсор поглощаемой мощности излучений
Состав работы
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
- Microsoft Word
Описание
СОДЕРЖАНИЕ
Введение
1. Проблемы и задачи разработки сенсоров поглощаемой мощности излучения
1.1. Современное состояние и основные направления развития сенсоров поглощаемой мощности излучений
1.1.1. Анализ методов, на которых основывается работа современных СПМИ
1.1.2. Тепловые методы измерения поглощаемой мощности излучений
1.1.3. Современные требования к сенсорам и перспективы их раелизации
1.2. Особенности измерения поглощаемой мощности в инфракрасном диапазоне длин волн
1.3. Обоснование и постановка задачи исследования
2. Модельные исследования комбинированной транзисторной структуры
2.1. Особенности моделирования КТС
2.2. Идентификация входных данных для моделирования КТС
2.3. Моделирование электрических характеристик КТС
2.4. Анализ результатов моделирования
3. Построение, свойства и основы функционирования СПМИ
3.1. Особенности электро-физических процессов в СПМИ
3.2. Конструкторско-технологические варианты решения СПМИ
3.3. Способы измерения поглощаемой мощности с использование СПМИ на основе КТС
4. Физические исследования СПМИ
4.1. Макетирование КТС.
4.2. Анализ физических процессов в СПМИ
4.3. Моделирование СПМИ
4.4. Макетирование СПМИ
4.5. Построение эмпирической модели электрических характеристик СПМИ
5. Сравнение результатов модельных и физических исследований СПМИ
6. Адаптивный интегральный сенсор поглощаемой мощности ИК-излучения
Выводы
Приложение 1
Приложение 2
1. Молекулярная физика. Виды распределений. Начала термодинамики. Межмолекулярное взаимодействие в газах и жидкостях. Процессы переноса в жидкостях и газах. Квантово-механическое описание атомных систем. Атом водорода. Многоэлектронные атомы. Строение и свойства молекул. Квантовые свойства твердых тел. Элементарные процессы в газах и плазме. Лазерная спектроскопия и ее применение в атомной физике.
2. Поверхность полупроводников. Характеристика поверхностных состояний. Поверхностные явления. Адсорбция. Теория адсорбционных процессов Ленгмюра. Вероятностный подход к кинетике адсорбции. Плотность поверхностных состояний. Искривление энергитических зон в приповерхностной области. Поверхностная проводимость.
3. Процессы реального кристаллообразования. Термодинамика зародышеобразования. Слоисто-ступеньчатый рост. Движение эшелона ступеней. Линейный и параболический законы роста. Рост на дислокациях. Срыв механизма слоисто- ступеньчатого роста. Эпитаксиальный рост.
4. Стеклообразные, некристаллические и аморфные твердые тела. Классифика-ция. Структура и состав. Влияние разупорядочивания. Плотность состояний. Явления переноса. Области применения : солнечные элементы, оптоэлектронные устройства, тонкопленочные транзисторы, электрические переключатели, устройства оптической памяти.
5. Поликристаллические полупроводниковые материалы. Границы между зер-нами. Процессы переноса в поликристаллических структурах. Электропроводность. Оптические явления в поликристаллических пленках. Применение поликристаллических пленок полупроводников.
6. Высокотемпературная сверхпроводимость. Новые классы высокотемпературных сверхпроводящих материалов. Модели сверхпроводимости высокотемпературных сверхпроводящих материалов. Структура и свойства высокотемпературных керамических сверхпроводников. Применение высокотемпературной сверхпроводимости.
Введение
1. Проблемы и задачи разработки сенсоров поглощаемой мощности излучения
1.1. Современное состояние и основные направления развития сенсоров поглощаемой мощности излучений
1.1.1. Анализ методов, на которых основывается работа современных СПМИ
1.1.2. Тепловые методы измерения поглощаемой мощности излучений
1.1.3. Современные требования к сенсорам и перспективы их раелизации
1.2. Особенности измерения поглощаемой мощности в инфракрасном диапазоне длин волн
1.3. Обоснование и постановка задачи исследования
2. Модельные исследования комбинированной транзисторной структуры
2.1. Особенности моделирования КТС
2.2. Идентификация входных данных для моделирования КТС
2.3. Моделирование электрических характеристик КТС
2.4. Анализ результатов моделирования
3. Построение, свойства и основы функционирования СПМИ
3.1. Особенности электро-физических процессов в СПМИ
3.2. Конструкторско-технологические варианты решения СПМИ
3.3. Способы измерения поглощаемой мощности с использование СПМИ на основе КТС
4. Физические исследования СПМИ
4.1. Макетирование КТС.
4.2. Анализ физических процессов в СПМИ
4.3. Моделирование СПМИ
4.4. Макетирование СПМИ
4.5. Построение эмпирической модели электрических характеристик СПМИ
5. Сравнение результатов модельных и физических исследований СПМИ
6. Адаптивный интегральный сенсор поглощаемой мощности ИК-излучения
Выводы
Приложение 1
Приложение 2
1. Молекулярная физика. Виды распределений. Начала термодинамики. Межмолекулярное взаимодействие в газах и жидкостях. Процессы переноса в жидкостях и газах. Квантово-механическое описание атомных систем. Атом водорода. Многоэлектронные атомы. Строение и свойства молекул. Квантовые свойства твердых тел. Элементарные процессы в газах и плазме. Лазерная спектроскопия и ее применение в атомной физике.
2. Поверхность полупроводников. Характеристика поверхностных состояний. Поверхностные явления. Адсорбция. Теория адсорбционных процессов Ленгмюра. Вероятностный подход к кинетике адсорбции. Плотность поверхностных состояний. Искривление энергитических зон в приповерхностной области. Поверхностная проводимость.
3. Процессы реального кристаллообразования. Термодинамика зародышеобразования. Слоисто-ступеньчатый рост. Движение эшелона ступеней. Линейный и параболический законы роста. Рост на дислокациях. Срыв механизма слоисто- ступеньчатого роста. Эпитаксиальный рост.
4. Стеклообразные, некристаллические и аморфные твердые тела. Классифика-ция. Структура и состав. Влияние разупорядочивания. Плотность состояний. Явления переноса. Области применения : солнечные элементы, оптоэлектронные устройства, тонкопленочные транзисторы, электрические переключатели, устройства оптической памяти.
5. Поликристаллические полупроводниковые материалы. Границы между зер-нами. Процессы переноса в поликристаллических структурах. Электропроводность. Оптические явления в поликристаллических пленках. Применение поликристаллических пленок полупроводников.
6. Высокотемпературная сверхпроводимость. Новые классы высокотемпературных сверхпроводящих материалов. Модели сверхпроводимости высокотемпературных сверхпроводящих материалов. Структура и свойства высокотемпературных керамических сверхпроводников. Применение высокотемпературной сверхпроводимости.
Другие работы
Информационные системы и технологии в банковской сфере
Elfa254
: 4 октября 2013
1. История создания и основные характеристики системы SWIFT
2. Основные принципы создания АИС для банковской сферы
3. Назначение и основные возможности системы «клиент-банк»
4. Информационные системы в финансово-экономической деятельности
5. Основные понятия баз данных и систем управления базами данных
6. Проектирование баз данных и работа с ними в Access
7. Проектирование и использование запросов, отчетов, форм в Access
1. История создания и основные характеристи
10 руб.
Задание 17. Вариант 20 - Следы прямой
Чертежи по сборнику Боголюбова 2007
: 5 октября 2024
Возможные программы для открытия данных файлов:
WinRAR (для распаковки архива *.zip или *.rar)
КОМПАС 3D не ниже 16 версии для открытия файлов *.cdw, *.m3d
Любая программа для ПДФ файлов.
Боголюбов С.К. Индивидуальные задания по курсу черчения, 1989/1994/2007.
Задание 17. Вариант 20 - Следы прямой.
По заданным координатам концов отрезка АВ построить его наглядное изображение и комплексный чертеж. Найти следы М и N прямой.
В состав выполненной работы входят 2 файла:
1. Чертеж формата А4, выпо
70 руб.
Логистика. Контрольная работа. Вариант №8
dbk
: 22 ноября 2015
Задание для выполнения контрольной работы.
Три поставщика одного и того же продукта располагают в планируемый период следующими его запасами: первый – А условных единиц, второй – В условных единиц, третий – С условных единиц. Этот продукт должен быть перевезен к трем потребителям, потребности которых равны Д, Е и К условных единиц, соответственно.
Необходимо определить наиболее дешевый вариант перевозок, если транспортные расходы на одну условную единицу составляют:
Поставщики Потребители
1 2 3
30 руб.
Экзамен по дисциплине: Физические основы оптической связи. Билет №9
IT-STUDHELP
: 4 мая 2020
Экзаменационный билет No 9
1. Приведите основные причины поглощения излучения в оптическом волокне. (Ответ должен быть кратким)
2. Определите угловую расходимость излучения ППЛ, излучающего длину волны 0,8мкм с площадки размером 1.1×1.5 мкм.
3. Определите величину фототока в ЛФД с внутренней квантовой эффективностью η=0.7 и коэффициентом лавинного умножения М=15, если уровень сигнала на выходе передатчика ps=-8дБм, а затухание линии связи (между точками S и R) на рабочей длине волны λ=1.55мк
750 руб.