Физика. Лабораторная работа №4
Состав работы
|
|
|
|
Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
- Microsoft Word
Описание
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
4. Задание
Выбрать линзу “Л2”, задав фокусное расстояние L от 25 до 35 см.
Получить интерференционную картину на экране.
Установить красный светофильтр. Измерить расстояние l1 от середины максимума первого порядка до середины центрального максимума по шкале экрана. Записать полученное значение в отчет по лабораторной работе.
Повторить измерения для максимума второго порядка.
Установить фиолетовый светофильтр. Повторить п.2 и п.3 для фиолетового света.
По формуле (4) рассчитать углы дифракции первого и второго порядков для красного и фиолетового цвета.
По формуле (3) рассчитать длины волн фиолетового и красного цвета. Период решетки принимается равным 5мкм. Окончательные значения длин волн вычислить как средние арифметические по максимумам первого и второго порядка одного и того же цвета. Внести полученные значения длин волн в отчет по лабораторной работе.
Сделать основные выводы по проделанной работе.
5. Контрольные вопросы
Максимум какого наибольшего порядка может наблюдаться на данной дифракционной решетке?
Дайте понятие дифракции. В чем сущность принципа Гюйгенса- Френеля?
Расскажите об устройстве и назначении дифракционной решетки проходящего света.
Объясните порядок чередования цветов в спектре, полученном в п.2 Задания.
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
4. Задание
Выбрать линзу “Л2”, задав фокусное расстояние L от 25 до 35 см.
Получить интерференционную картину на экране.
Установить красный светофильтр. Измерить расстояние l1 от середины максимума первого порядка до середины центрального максимума по шкале экрана. Записать полученное значение в отчет по лабораторной работе.
Повторить измерения для максимума второго порядка.
Установить фиолетовый светофильтр. Повторить п.2 и п.3 для фиолетового света.
По формуле (4) рассчитать углы дифракции первого и второго порядков для красного и фиолетового цвета.
По формуле (3) рассчитать длины волн фиолетового и красного цвета. Период решетки принимается равным 5мкм. Окончательные значения длин волн вычислить как средние арифметические по максимумам первого и второго порядка одного и того же цвета. Внести полученные значения длин волн в отчет по лабораторной работе.
Сделать основные выводы по проделанной работе.
5. Контрольные вопросы
Максимум какого наибольшего порядка может наблюдаться на данной дифракционной решетке?
Дайте понятие дифракции. В чем сущность принципа Гюйгенса- Френеля?
Расскажите об устройстве и назначении дифракционной решетки проходящего света.
Объясните порядок чередования цветов в спектре, полученном в п.2 Задания.
Дополнительная информация
Уважаемый слушатель, дистанционного обучения,
Оценена Ваша работа по предмету: Физика (2 сем.)
Вид работы: Лабораторная работа 2
Оценка:Зачет
Дата оценки: 22.01.2013
Рецензия:Уважаемый слушатель, Ваша лабораторная работа ? 4 проверена. Экспериментальный результат правильный.
Работа зачтена.
Стрельцов Александр Иванович
Оценена Ваша работа по предмету: Физика (2 сем.)
Вид работы: Лабораторная работа 2
Оценка:Зачет
Дата оценки: 22.01.2013
Рецензия:Уважаемый слушатель, Ваша лабораторная работа ? 4 проверена. Экспериментальный результат правильный.
Работа зачтена.
Стрельцов Александр Иванович
Похожие материалы
Физика-3. Лабораторная работа № -4
Pushful
: 29 октября 2015
Лабораторная работа по курсу общей физики
ОПРЕДЕЛЕНИЕ УДЕЛЬНОГО ЗАРЯДА ЭЛЕКТРОНА МЕТОДОМ МАГНЕТРОНА
1. ЦЕЛЬ РАБОТЫ
Определение величины удельного заряда электрона методом магнетрона.
Задание:
1. Изучить работу магнетрона. Снять зависимость анодного тока в лампе от тока соленоида.
2. Рассчитать удельный заряд электрона по формуле (1.8) и сравнить с табличным значением.
3. Оценить погрешность определения удельного заряда электрона.
100 руб.
Лабораторная работа № 4 по дисциплине "Физика"
BuKToP89
: 25 декабря 2012
Работа 6.8. “Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников”
Цель работы:
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны.
Контрольные вопросы:
1. Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
2. Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости lns от 1 / T ?
3. Вывести формулу для вычисления ширины запрещенной зоны полупро
50 руб.
Лабораторная работа № 4 по предмету "Физика"
leokitty
: 4 февраля 2012
Лабораторная работа 7.3
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. В частности, д
50 руб.
Лабораторные работы (4 шт.) по дисциплине: «Физика»
xtrail
: 23 января 2014
Работа 3.2
Изучение характеристик электростатического поля
1. Цель работы
Исследовать электростатическое поле, графически изобразить сечение эквипотенциальных поверхностей и силовые линии для некоторых конфигураций поля.
Работа 4.1
Определение удельного заряда электрона методом магнетрона
1.Цель работы
Познакомиться с законами движения заряженных частиц в электрическом и магнитном полях, определить удельный заряд электрона с помощью цилиндрического магнетрона.
Работа 6.8
Изучение температурной
500 руб.
Лабораторная работа №4 по дисциплине: «Физика». Вариант №7.
ДО Сибгути
: 5 февраля 2016
Лабораторная работа по физике.
На тему: «Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников».
Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
Контрольные вопросы
1. Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
2.Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости lns от 1/T.?
3. Вывести формулу для вычисления ширины за
70 руб.
Физика. 2-й семестр. Лабораторная работа № 4.
пума
: 18 января 2016
Лабораторная работа 7.3
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
Задание
1. Выбрать линзу “Л2”, задав фокусное расстояние L от 25 до 35 см.
2. Получить интерференционную картину на экране
3. Установить красный светофильтр. Измерить расстояние l1 от середины максимума первого порядка до середины центрального максимума по шкале экрана. Записать полученное значение в отчет по лабораторной работе.
4. Повторить измерения для максимума второго порядка.
5. Установить фиоле
60 руб.
Лабораторная работа №4 по дисциплине: Физика. Вариант: №7
lebed-e-va
: 30 марта 2015
Лабораторная работа 6.8
Изучение температурной зависимости электропроводности
полупроводников
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
2. Краткие теоретические сведения
Электропроводностью материалов называется величина, обратная удельному сопротивлению.
100 руб.
ФИЗИКА. Лабораторная работа № 4. Вариант № 8. СибГУТИ
Shamrock
: 2 февраля 2015
Тема: Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
1. Цель работы:
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн.
С помощью дифракционной решетки, проходящего света, измерить длины электромагнитных волн, видимого диапазона.
2. Основные теоретические сведения :
Электромагнитные волны – возмущения электромагнитного поля, распространяющиеся в пространстве. По гипотезе Максвелла: - свет – электромагнитные волны.
Представлениям электромагнитной теории света, полнос
250 руб.
Другие работы
Контрольная работа по дисциплине: Сети ЭВМ и телекоммуникации. Вариант №9
IT-STUDHELP
: 7 ноября 2023
Вариант No9
Задание: Требуется рассчитать количество оборудования (базовые станции, маршрутизаторы, элементы управления сетью, транспортные каналы) для построения сети LTE при заданных параметрах.
Таблица 1 Исходные данные
Выберите значение параметра в соответствие с вариантом (последняя цифра пароля)
Параметр 1 2 3 4 5 6 7 8 9 0
Диапазон частот, ГГц 2,0 1,8 1,9 1,8 3,6 1,95 2,4 3,4 0,46 0,84
Режим дуплексирования FDD (отдельные симметричные полосы частот под UL и DL)
Ширина полосы частот (BW
420 руб.
Лабораторные работы 1-3 по дисциплине: Основы администрирования сетевых устройств. Вариант №25
IT-STUDHELP
: 26 декабря 2022
ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 1. «Администрирование простейшей сети»
Цель работы: Получить базовые навыки создания моделей компьютерных сетей на примере CiscoPacketTracerStudent. Изучение процесса настроек сетевых интерфейсов при построении простейшей компьютерной сети.
Выполнение лабораторной работы
Создадим простейшую компьютерную сеть, состоящую из двух компьютеров и коммутатора (рисунок 1)....
Выводы
=============================================
ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА 2. «Настройка L2 коммутатора. V
600 руб.
Перекрывание рабочей площадки одноэтажного промышленного здания
Рики-Тики-Та
: 12 января 2012
Содержание
1. Исходные данные
2. Компоновка конструктивной схемы каркаса здания
2.1 Расчет стального плоского настила
3. Подбор сечения балки настила
3.1 Сбор нагрузок и расчетная схема балки настила.
3.2 Подбор сечения балки настила.
3.3 Проверка прочности и жёсткости подобранного сечения.
4. Расчёт главной балки рабочей площадки
4.1 Сбор нагрузок и расчетная схема главной балки
4.2 Компоновка сечения главной балки
4.3 Проверка прочности и жёсткости составной балки
4.4 Изменение с
55 руб.
Лекции. Прикладная оптика
Администратор
: 3 мая 2008
ОБЩИЕ СВЕДЕНИЯ ОБ ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКИХ ПРИБОРАХ
Свойства и назначение оптических приборов.
1. ПРОЕКТИРОВАНИЕ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ
2. ФИЗИЧЕСКАЯ ОПТИКА.
3. ОСНОВНЫЕ ПОНЯТИЯ И ЗАКОНЫ ГЕОМЕТРИЧЕСКОЙ ОПТИКИ
4. ИДЕАЛЬНАЯ ОПТИЧЕСКАЯ СИСТЕМА
5. ОГРАНИЧЕНИЕ ПУЧКОВ ЛУЧЕЙ В ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМАХ
6. ОЦЕНКА КАЧЕСТВА ИЗОБРАЖЕНИЯ
7. АБЕРРАЦИИ ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ
8. ОПТИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ
9. ОБЩИЕ ПОЛОЖЕНИЯ ТЕОРИИ ОТРАЖЕНИЯ СВЕТА
10. ОПТИЧЕСКИЕ ЭЛЕМЕНТЫ
11. ЧЕРТЕЖИ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ