Физика. Лабораторная работа №4
Состав работы
|
|
|
|
Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
- Microsoft Word
Описание
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
4. Задание
Выбрать линзу “Л2”, задав фокусное расстояние L от 25 до 35 см.
Получить интерференционную картину на экране.
Установить красный светофильтр. Измерить расстояние l1 от середины максимума первого порядка до середины центрального максимума по шкале экрана. Записать полученное значение в отчет по лабораторной работе.
Повторить измерения для максимума второго порядка.
Установить фиолетовый светофильтр. Повторить п.2 и п.3 для фиолетового света.
По формуле (4) рассчитать углы дифракции первого и второго порядков для красного и фиолетового цвета.
По формуле (3) рассчитать длины волн фиолетового и красного цвета. Период решетки принимается равным 5мкм. Окончательные значения длин волн вычислить как средние арифметические по максимумам первого и второго порядка одного и того же цвета. Внести полученные значения длин волн в отчет по лабораторной работе.
Сделать основные выводы по проделанной работе.
5. Контрольные вопросы
Максимум какого наибольшего порядка может наблюдаться на данной дифракционной решетке?
Дайте понятие дифракции. В чем сущность принципа Гюйгенса- Френеля?
Расскажите об устройстве и назначении дифракционной решетки проходящего света.
Объясните порядок чередования цветов в спектре, полученном в п.2 Задания.
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
4. Задание
Выбрать линзу “Л2”, задав фокусное расстояние L от 25 до 35 см.
Получить интерференционную картину на экране.
Установить красный светофильтр. Измерить расстояние l1 от середины максимума первого порядка до середины центрального максимума по шкале экрана. Записать полученное значение в отчет по лабораторной работе.
Повторить измерения для максимума второго порядка.
Установить фиолетовый светофильтр. Повторить п.2 и п.3 для фиолетового света.
По формуле (4) рассчитать углы дифракции первого и второго порядков для красного и фиолетового цвета.
По формуле (3) рассчитать длины волн фиолетового и красного цвета. Период решетки принимается равным 5мкм. Окончательные значения длин волн вычислить как средние арифметические по максимумам первого и второго порядка одного и того же цвета. Внести полученные значения длин волн в отчет по лабораторной работе.
Сделать основные выводы по проделанной работе.
5. Контрольные вопросы
Максимум какого наибольшего порядка может наблюдаться на данной дифракционной решетке?
Дайте понятие дифракции. В чем сущность принципа Гюйгенса- Френеля?
Расскажите об устройстве и назначении дифракционной решетки проходящего света.
Объясните порядок чередования цветов в спектре, полученном в п.2 Задания.
Дополнительная информация
Уважаемый слушатель, дистанционного обучения,
Оценена Ваша работа по предмету: Физика (2 сем.)
Вид работы: Лабораторная работа 2
Оценка:Зачет
Дата оценки: 22.01.2013
Рецензия:Уважаемый слушатель, Ваша лабораторная работа ? 4 проверена. Экспериментальный результат правильный.
Работа зачтена.
Стрельцов Александр Иванович
Оценена Ваша работа по предмету: Физика (2 сем.)
Вид работы: Лабораторная работа 2
Оценка:Зачет
Дата оценки: 22.01.2013
Рецензия:Уважаемый слушатель, Ваша лабораторная работа ? 4 проверена. Экспериментальный результат правильный.
Работа зачтена.
Стрельцов Александр Иванович
Похожие материалы
Физика-3. Лабораторная работа № -4
Pushful
: 29 октября 2015
Лабораторная работа по курсу общей физики
ОПРЕДЕЛЕНИЕ УДЕЛЬНОГО ЗАРЯДА ЭЛЕКТРОНА МЕТОДОМ МАГНЕТРОНА
1. ЦЕЛЬ РАБОТЫ
Определение величины удельного заряда электрона методом магнетрона.
Задание:
1. Изучить работу магнетрона. Снять зависимость анодного тока в лампе от тока соленоида.
2. Рассчитать удельный заряд электрона по формуле (1.8) и сравнить с табличным значением.
3. Оценить погрешность определения удельного заряда электрона.
100 руб.
Лабораторная работа № 4 по дисциплине "Физика"
BuKToP89
: 25 декабря 2012
Работа 6.8. “Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников”
Цель работы:
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны.
Контрольные вопросы:
1. Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
2. Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости lns от 1 / T ?
3. Вывести формулу для вычисления ширины запрещенной зоны полупро
50 руб.
Лабораторная работа № 4 по предмету "Физика"
leokitty
: 4 февраля 2012
Лабораторная работа 7.3
1. Цель работы
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона
2. Основные теоретические сведения
Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями ( например, вблизи границ непрозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. В частности, д
50 руб.
Лабораторные работы (4 шт.) по дисциплине: «Физика»
xtrail
: 23 января 2014
Работа 3.2
Изучение характеристик электростатического поля
1. Цель работы
Исследовать электростатическое поле, графически изобразить сечение эквипотенциальных поверхностей и силовые линии для некоторых конфигураций поля.
Работа 4.1
Определение удельного заряда электрона методом магнетрона
1.Цель работы
Познакомиться с законами движения заряженных частиц в электрическом и магнитном полях, определить удельный заряд электрона с помощью цилиндрического магнетрона.
Работа 6.8
Изучение температурной
500 руб.
Лабораторная работа №4 по дисциплине: «Физика». Вариант №7.
ДО Сибгути
: 5 февраля 2016
Лабораторная работа по физике.
На тему: «Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников».
Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
Контрольные вопросы
1. Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
2.Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости lns от 1/T.?
3. Вывести формулу для вычисления ширины за
70 руб.
Физика. 2-й семестр. Лабораторная работа № 4.
пума
: 18 января 2016
Лабораторная работа 7.3
Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
Задание
1. Выбрать линзу “Л2”, задав фокусное расстояние L от 25 до 35 см.
2. Получить интерференционную картину на экране
3. Установить красный светофильтр. Измерить расстояние l1 от середины максимума первого порядка до середины центрального максимума по шкале экрана. Записать полученное значение в отчет по лабораторной работе.
4. Повторить измерения для максимума второго порядка.
5. Установить фиоле
60 руб.
Лабораторная работа №4 по дисциплине: Физика. Вариант: №7
lebed-e-va
: 30 марта 2015
Лабораторная работа 6.8
Изучение температурной зависимости электропроводности
полупроводников
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
2. Краткие теоретические сведения
Электропроводностью материалов называется величина, обратная удельному сопротивлению.
100 руб.
ФИЗИКА. Лабораторная работа № 4. Вариант № 8. СибГУТИ
Shamrock
: 2 февраля 2015
Тема: Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера
1. Цель работы:
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн.
С помощью дифракционной решетки, проходящего света, измерить длины электромагнитных волн, видимого диапазона.
2. Основные теоретические сведения :
Электромагнитные волны – возмущения электромагнитного поля, распространяющиеся в пространстве. По гипотезе Максвелла: - свет – электромагнитные волны.
Представлениям электромагнитной теории света, полнос
250 руб.
Другие работы
Кронштейн 733151
bublegum
: 4 ноября 2020
Кронштейн 733151
Кронштейн Чертеж 4
1. Вычертить соединение главного вида с фронтальным разрезом без штриховых линий.
2. Построить вид слева.
3. Вычертить вид сверху без штриховых линий.
4. Наименование детали: Кронштейн (733151).
5. Материал детали: Серый чугун СЧ10 ГОСТ 1412-85.
6. Номер детали 4.
Выполнено в компасе 3D V13 SP2 чертеж+3Д модель, , возможно открыть и выше версиях компаса.
Помогу с другими вариантами.Пишите в Л/С.
100 руб.
Необхідність, сутність і розвиток системи автотранспортного страхування
Lokard
: 2 декабря 2013
Динамічний розвиток вітчизняної економіки, що наступив після тривалої кризи, зумовив пожвавлення виробничої й комерційної діяльності підприємств, нарощування експортно-імпортних вантажопотоків, збільшення добробуту й мобільності людей, що призвело до помітного зростання потреби в транспортних засобах. Уже зараз автомобільний парк України налічує понад 9 млн одиниць транспортних засобів різних марок і призначення. У міру зростання платоспроможності громадян, розвитку кредитування і страхування
10 руб.
Генетическая память, молекулярные биопроцессоры и их выходное управляющее звено
evelin
: 2 сентября 2013
Генетическая память, молекулярные биопроцессорные аппараты транскрипции и трансляции и их выходное управляющее звено – белки и ферменты являются центральными устройствами, на базе которых построена управляющая система клетки. Белковые макромолекулы, представляющие собой молекулярные биологические автоматы, образуют различные циклические информационные потоки и сети, контролирующие различные химические и молекулярные функции живой клетки (организма). Программирование этих потоков и сетей обеспечи
10 руб.
Проектирование повышения эффективности производственной структуры предприятия
Slolka
: 16 августа 2013
Производственный процесс, осуществляемый на предприятии, есть процесс создания определенных материальных благ, основными элементами которого являются целесообразная деятельность, или сам труд, предметы и средства труда. В соответствии с этим общая, производственная и организационная структуры предприятия с его трудовым потенциалом требует четкого и научного управления. Общая структура предприятия представляет собой состав и размещение, как производственных подразделений, так и организаций по обс
5 руб.