Растровая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ

ID: 137965
Дата закачки: 28 Февраля 2014
Закачал: demonoo074 (Напишите, если есть вопросы)
    Посмотреть другие работы этого продавца

Тип работы: Работа
Форматы файлов: Microsoft Word

Описание:
Растровая электронная микроскопия. В основе работы растрового электронного микроскопа (РЭМ) лежит сканирование поверхности образца сфокусированным электронным лучом (построчное перемещение луча вдоль поверхности образца), поэтому его часто еще называют сканирующим электронным микроскопом (СЭМ), что ближе к общепринятому английскому названию – scanning electron microscope (SEM).

Размер файла: 209,8 Кбайт
Фаил: (.docx)

Скачать

Добавить в корзину

Занесено в корзину

    Скачано: 4         Коментариев: 0

Есть вопросы? Посмотри часто задаваемые вопросы и ответы на них.
Опять не то? Мы можем помочь сделать!

Некоторые похожие работы:

Шелованова Г.Н. и др. Материалы и элементы электронной техники
Ещё искать по базе с такими же ключевыми словами.