Лабораторная работа. Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников. По дисциплине: Физика (спецглавы) вариант№5
Состав работы
|
|
|
|
Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
- Microsoft Word
Описание
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
2. Теоретическое введение
Электропроводность материалов определяется выражением:
= + n+ q+ + - n– q- (1)
где q+ и q- - соответственно величина заряда положительных и отрицательных носителей электрического заряда, n+ и n- - концентрация соответственно положительных и отрицательных носителей заряда, μ+ и μ- - подвижности положительных и отрицательных носителей заряда.
В нашей задаче исследуется собственная электропроводность полупроводника. Поэтому положительными носителями заряда являются дырки, а отрицательными- электроны. Следовательно,
|q+| = |q-| = e
и, поскольку полупроводник собственный, то n+ = n- = n
Тогда = ne(p+n) (2)
Здесь μn и μp- подвижность электронов проводимости и дырок, соответственно.
Строго говоря, от температуры зависят и концентрация, и подвижности носителей заряда. Однако, во многих случаях в узком диапазоне температур зависимостью подвижностей от температуры можно пренебречь и считать подвижности постоянными, не зависящими от температуры. В данной работе рассматривается именно этот случай.
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
2. Теоретическое введение
Электропроводность материалов определяется выражением:
= + n+ q+ + - n– q- (1)
где q+ и q- - соответственно величина заряда положительных и отрицательных носителей электрического заряда, n+ и n- - концентрация соответственно положительных и отрицательных носителей заряда, μ+ и μ- - подвижности положительных и отрицательных носителей заряда.
В нашей задаче исследуется собственная электропроводность полупроводника. Поэтому положительными носителями заряда являются дырки, а отрицательными- электроны. Следовательно,
|q+| = |q-| = e
и, поскольку полупроводник собственный, то n+ = n- = n
Тогда = ne(p+n) (2)
Здесь μn и μp- подвижность электронов проводимости и дырок, соответственно.
Строго говоря, от температуры зависят и концентрация, и подвижности носителей заряда. Однако, во многих случаях в узком диапазоне температур зависимостью подвижностей от температуры можно пренебречь и считать подвижности постоянными, не зависящими от температуры. В данной работе рассматривается именно этот случай.
Дополнительная информация
2012 год, зачет, работа с исправлениями, работой над ошибками
Похожие материалы
Физика (спецглавы). Лабораторная работа №6.8. Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Gila
: 15 октября 2017
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников.
Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
Работа зачтена.
180 руб.
Лабораторная работа №6.8 по физике(спецглавы) Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников.
Zenkoff
: 25 марта 2014
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
2. Краткие теоретические сведения
Электропроводностью материалов называется величина, обратная удельному сопротивлению. Электропроводность материалов определяется выражением:
где q+ и q- - соответственно величина заряда положительных и отрицательных носителей электрического заряда,
n+ и n- - концентрация соответственно положительных и отрицательных носителей з
30 руб.
Лабораторная работа 6.8. (Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников) по дисциплине: "Физика (спецглавы)"
wowan1190
: 4 декабря 2013
Лабораторная работа 6.8
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Цель работы: изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
60 руб.
Лабораторная 4 Физика (спецглавы). Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
verunchik
: 7 июля 2012
Цель работы:
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны.
Устанавливаем силу тока через образец 8,6 мА.
100 руб.
Физика. Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
Саша78
: 9 апреля 2020
Вариант 09
Сила тока в соответствии с вариантом равна 9.4
100 руб.
Лабораторная работа по физике “ Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников”.
ChrisTref
: 19 сентября 2009
Лабораторная работа по физике No4 (работа 6.8), вариант 6.
Тема работы: “ Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников”.
Цель работы:
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны.
Контрольные вопросы:
Вопрос 1. Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
Вопрос 2. Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости ln
300 руб.
«Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников»
Илья272
: 21 мая 2021
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны.........................................
350 руб.
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
chita261
: 8 января 2015
Лабораторная работа 6.8
«Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников»
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
100 руб.
Другие работы
Виробничий корпус промислової будівлі
SerFACE
: 23 мая 2013
Виробничий корпус промислової будівлі. А1.
25 руб.
Разработка интегрального аналогового устройства
Amor
: 10 июня 2013
Содержание
Техническое задание…………………………………………………………….3
Введение………………………………………………………………………….4
1. Разработка структурной и принципиальной схем устройства ………..5
2. Расчет элементов принципиальной схемы……………………………...7
3. Расчет амплитудно-частотной характеристики..…………………….....9
4. Разработка интегральной микросхемы…………………………………12
4.1.Выбор навесных элементов и расчет конфигурации
пленочных элементов…………………………………………….……....12
150 руб.
Совершенствование технологического процесса диагностики автомобилей в условиях ОАО «ГАЗ Сервис» Г. КИЕВА с разработкой подъёмника для вывешивания мостов автомобиля
proekt-sto
: 15 декабря 2022
Дипломный проект выполнен на листах графического материала формата А1 и листах расчетно-пояснительной записки, состоящей из 6 разделов.
В проекте дана характеристика предприятия и произведен анализ производственной деятельности автосервиса ОАО «ГАЗ сервис» г.Киева.
Приведены расчеты производственной программы, на основании которых произведено совершенствование технологического процесса диагностики в условиях ОАО «ГАЗ сервис».
Конструкторская разработка включает в себя необходимые технолог
1500 руб.
Теория вероятностей и математическая статистика. Вариант: №4
ilya2213
: 17 июня 2021
Задание 1.Комбинаторика.
Внимание! Под «словом» подразумевается любой набор букв, не обязательно осмысленный.
Сколько 4-х буквенных слов можно составить из букв слова УКУС?
Задание 2.Основные теоремы.
В автопарке имеются автомобили двух марок, всех поровну.
Автомобиль первой марки исправен с вероятностью - 0,8,
второй марки с вероятностью - 0,7.
Найти вероятность того ,что произвольный автомобиль автопарка исправен.
Задание 3.Случайные величины.
Найти математическое ожидание, дисперсию и среднее
190 руб.