Специальные главы физики. Лабораторная работа 6.8. Вариант № 4
Состав работы
|
|
|
|
Работа представляет собой rar архив с файлами (распаковать онлайн), которые открываются в программах:
- Microsoft Word
Описание
Специальные главы физики. Вариант № 4
Лабораторная работа 6.8
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
2. Теоретическое введение
Электропроводность материалов определяется выражением:
(1)
где q+ и q- - соответственно величина заряда положительных и отрицательных носителей электрического заряда, n+ и n- - концентрация соответственно положительных и отрицательных носителей заряда, µ+ и µ- - подвижности положительных и отрицательных носителей заряда.
В нашей задаче исследуется собственная электропроводность полупроводника. Поэтому положительными носителями заряда являются дырки, а отрицательными- электроны. Следовательно,
|q+| = |q-| = e
и, поскольку полупроводник собственный, то n+ = n- = n
Тогда (2)
Здесь µn и µp- подвижность электронов проводимости и дырок, соответственно.
Строго говоря, от температуры зависят и концентрация, и подвижности носителей заряда. Однако, во многих случаях в узком диапазоне температур зависимостью подвижностей от температуры можно пренебречь и считать подвижности постоянными, не зависящими от температуры. В данной работе рассматривается именно этот случай.
Зависимость концентрации собственных носителей от температуры описывается экспонентой:
(3)
Здесь Eg - ширина запрещенной зоны, k- постоянная Больцмана, T- температура образца, n0- концентрация носителей при высоких температурах.
Отсюда (4)
Обозначим n0 e(µn+µp)= и условно назовем это электропроводностью образца при бесконечно большой температуре. В результате получим выражение для электропроводности образца:
(5)
Таким образом, зависимость электропроводности собственного полупроводника от температуры является экспоненциальной. Уравнение (5) поддается экспериментальной проверке и позволяет определить ширину запрещенной зоны полупроводника Eg . Именно это и является целью данной лабораторной работы.
Прологарифмируем формулу (5). Получим:
(6)
Отсюда следует, что график зависимости от представляет собой прямую линию, что легко проверить практически. Для вычисления ширины запрещенной зоны Eg поступим следующим образом. Построим прямую (6). В уравнении (6) имеем два неизвестных: ширину запрещенной зоны Eg и логарифм электропроводности при бесконечно большой температуре lns 0. Возьмем на прямой (6) две произвольные точки. Уравнение (6) для этих точек запишется как
(7)
Решив эту систему относительно Eg получим:
(8)
Формула (8) является рабочей для вычисления ширины запрещенной зоны полупроводника.
В данной работе полупроводниковый образец выполнен в виде параллелепипеда, имеющего длину l, ширину a и высоту b. Для вычисления электропроводности образца воспользуемся законом Ома. Электрическое сопротивление образца по закону Ома равно
(9)
где U- электрическое напряжение на образце, I- сила тока через образец. Приняв во внимание геометрию образца и связь электропроводности и удельного сопротивления найдем выражение для электропроводности полупроводникового образца
(10)
где S=ab- площадь поперечного сечения образца.
3. Описание лабораторной установки
Схема лабораторной установки приведена на рис.1.
Сила тока источника (1) не зависит от сопротивления нагрузки. Нагрузкой источника является образец (2). Сила тока, протекающего через образец, регистрируется миллиамперметром (3), а напряжение на образце измеряется при помощи вольтметра (4). Образец наклеен на электроизолирующую теплопроводную пластину и помещен в печь (5) с маслом. Туда же помещен термометр (6) для измерения температуры образца.
4. Задание
Выполняется по вариантам.
Вариант
Сила тока, мА
1
3
2
3,8
3
4,6
4
5,4
5
6,2
6
7
7
7,8
8
8,6
9
9,4
10
10
Установить силу тока через образец в соответствии с вариантом. Записать силу тока в отчет по лабораторной работе.
Изменяйте температуру образца от 250С до 800С через 50С, каждый раз записывая напряжение на образце. Полученные данные занесите в таблицу в отчете по лабораторной работе.
Вычислить по формуле (10) электропроводности образца при всех температурах. Прологарифмировать полученные значения электропроводности.
Вычислите абсолютные температуры образца Т= t+273, К. Все данные занесите в таблицу измерений.
Построить график зависимости lns от 1/ Т.
На графике выбрать две точки в диапазоне температур от 400С до 800С. Определить для этих точек по графику величины lns и 1/ T и вычислить по формуле (8) ширину запрещенной зоны полупроводника.
5. Контрольные вопросы
Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости lns от 1 / T .?
Вывести формулу для вычисления ширины запрещенной зоны полупроводника.
6. Литература
Савельев И.В. Курс общей физики.- М.: Наука, 1979,- т.3,§ 57,58,59.
Айзенцон А.Е. Курс физики.- М.: Высшая школа, 1996.- Гл.19 § 19.3
Лабораторная работа 6.8
Изучение температурной зависимости электропроводности полупроводников
1. Цель работы
Изучить зависимость электропроводности полупроводникового образца от температуры. Определить ширину запрещенной зоны
2. Теоретическое введение
Электропроводность материалов определяется выражением:
(1)
где q+ и q- - соответственно величина заряда положительных и отрицательных носителей электрического заряда, n+ и n- - концентрация соответственно положительных и отрицательных носителей заряда, µ+ и µ- - подвижности положительных и отрицательных носителей заряда.
В нашей задаче исследуется собственная электропроводность полупроводника. Поэтому положительными носителями заряда являются дырки, а отрицательными- электроны. Следовательно,
|q+| = |q-| = e
и, поскольку полупроводник собственный, то n+ = n- = n
Тогда (2)
Здесь µn и µp- подвижность электронов проводимости и дырок, соответственно.
Строго говоря, от температуры зависят и концентрация, и подвижности носителей заряда. Однако, во многих случаях в узком диапазоне температур зависимостью подвижностей от температуры можно пренебречь и считать подвижности постоянными, не зависящими от температуры. В данной работе рассматривается именно этот случай.
Зависимость концентрации собственных носителей от температуры описывается экспонентой:
(3)
Здесь Eg - ширина запрещенной зоны, k- постоянная Больцмана, T- температура образца, n0- концентрация носителей при высоких температурах.
Отсюда (4)
Обозначим n0 e(µn+µp)= и условно назовем это электропроводностью образца при бесконечно большой температуре. В результате получим выражение для электропроводности образца:
(5)
Таким образом, зависимость электропроводности собственного полупроводника от температуры является экспоненциальной. Уравнение (5) поддается экспериментальной проверке и позволяет определить ширину запрещенной зоны полупроводника Eg . Именно это и является целью данной лабораторной работы.
Прологарифмируем формулу (5). Получим:
(6)
Отсюда следует, что график зависимости от представляет собой прямую линию, что легко проверить практически. Для вычисления ширины запрещенной зоны Eg поступим следующим образом. Построим прямую (6). В уравнении (6) имеем два неизвестных: ширину запрещенной зоны Eg и логарифм электропроводности при бесконечно большой температуре lns 0. Возьмем на прямой (6) две произвольные точки. Уравнение (6) для этих точек запишется как
(7)
Решив эту систему относительно Eg получим:
(8)
Формула (8) является рабочей для вычисления ширины запрещенной зоны полупроводника.
В данной работе полупроводниковый образец выполнен в виде параллелепипеда, имеющего длину l, ширину a и высоту b. Для вычисления электропроводности образца воспользуемся законом Ома. Электрическое сопротивление образца по закону Ома равно
(9)
где U- электрическое напряжение на образце, I- сила тока через образец. Приняв во внимание геометрию образца и связь электропроводности и удельного сопротивления найдем выражение для электропроводности полупроводникового образца
(10)
где S=ab- площадь поперечного сечения образца.
3. Описание лабораторной установки
Схема лабораторной установки приведена на рис.1.
Сила тока источника (1) не зависит от сопротивления нагрузки. Нагрузкой источника является образец (2). Сила тока, протекающего через образец, регистрируется миллиамперметром (3), а напряжение на образце измеряется при помощи вольтметра (4). Образец наклеен на электроизолирующую теплопроводную пластину и помещен в печь (5) с маслом. Туда же помещен термометр (6) для измерения температуры образца.
4. Задание
Выполняется по вариантам.
Вариант
Сила тока, мА
1
3
2
3,8
3
4,6
4
5,4
5
6,2
6
7
7
7,8
8
8,6
9
9,4
10
10
Установить силу тока через образец в соответствии с вариантом. Записать силу тока в отчет по лабораторной работе.
Изменяйте температуру образца от 250С до 800С через 50С, каждый раз записывая напряжение на образце. Полученные данные занесите в таблицу в отчете по лабораторной работе.
Вычислить по формуле (10) электропроводности образца при всех температурах. Прологарифмировать полученные значения электропроводности.
Вычислите абсолютные температуры образца Т= t+273, К. Все данные занесите в таблицу измерений.
Построить график зависимости lns от 1/ Т.
На графике выбрать две точки в диапазоне температур от 400С до 800С. Определить для этих точек по графику величины lns и 1/ T и вычислить по формуле (8) ширину запрещенной зоны полупроводника.
5. Контрольные вопросы
Вывести формулу для собственной электропроводности полупроводника.
Почему для проверки температурной зависимости электропроводности полупроводников строится график зависимости lns от 1 / T .?
Вывести формулу для вычисления ширины запрещенной зоны полупроводника.
6. Литература
Савельев И.В. Курс общей физики.- М.: Наука, 1979,- т.3,§ 57,58,59.
Айзенцон А.Е. Курс физики.- М.: Высшая школа, 1996.- Гл.19 § 19.3
Дополнительная информация
Уважаемый слушатель, дистанционного обучения,
Оценена Ваша работа по предмету: Специальные главы физики
Вид работы: Лабораторная работа 1
Оценка: Зачет
Дата оценки: 02.06.2019
Рецензия: Уважаемый ................................,
Моргачев Юрий Вячеславович
Оценена Ваша работа по предмету: Специальные главы физики
Вид работы: Лабораторная работа 1
Оценка: Зачет
Дата оценки: 02.06.2019
Рецензия: Уважаемый ................................,
Моргачев Юрий Вячеславович
Похожие материалы
Специальные главы физики. Контрольная работа. Вариант №4
SibGUTI2
: 7 июня 2019
Специальные главы физики.
Контрольная работа.
Вариант No4
Рекомендации к выполнению контрольной работы
При выполнении и оформлении контрольной работы необходимо соблюдать следующие правила.
Для набора текста следует пользоваться стандартными средствами пакетов Microsoft Word
Условие задач следует записывать полностью.
Затем необходимо сделать краткую запись условия, все единицы величин, приводимых в условии, перевести в систему СИ.
Выполнить схему, чертеж или рисунок, иллюстрирующий решени
60 руб.
Специальные главы физики. Лабораторная работа 1.
BuffetBoy
: 18 января 2026
Лабораторная работа №1 “Определение длины электромагнитной волны методом дифракции Фраунгофера”
Цель работы: Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
100 руб.
Лабораторная работа По дисциплине: «Специальные главы физики»
усит
: 15 января 2026
Лабораторная работа
По дисциплине: «Специальные главы физики»
вариант 2
зачет
350 руб.
Контрольная работа По дисциплине: Специальные главы физики
усит
: 15 января 2026
Контрольная работа
По дисциплине: Специальные главы физики
зачет
350 руб.
Специальные главы физики Контрольная работа 7 Вариант
122121
: 13 января 2026
Специальные главы физики
Контрольная работа
7 Вариант
75 руб.
Контрольная по дисциплине: Специальные главы физики. Вариант 1
xtrail
: 18 июля 2025
Вариант No1
1. В опыте Юнга вначале рассматривается излучение с длиной волны Л1 = 0,7 мкм, а затем с Л2. Определите значение длины волны Л2, если шестая светлая полоса в первом случае совпадает с девятой темной полосой во втором случае. Рисунком поясните схему опыта Юнга, укажите на рисунке распределение интенсивности света на экране. Опыт проводится в вакууме
2. Монохроматический свет падает нормально на щель шириной 10 мкм. За щелью находится тонкая линза с оптической силой 4Дптр. В фокально
800 руб.
Специальные главы физики Лабораторная работа 2024 (БЕЗ ВАРИАНТА)
ilya22ru
: 26 сентября 2024
Исследовать явление дифракции электромагнитных волн. С помощью дифракционной решетки проходящего света измерить длины электромагнитных волн видимого диапазона.
Без варианта.
300 руб.
Другие работы
Оптимизация программного обеспечения (ДВ 4.2). 30 вариант (Вариант №10.)
bananchik
: 25 мая 2021
Номер варианта Вашего индивидуального задания курсовой работы соответствует последней цифре Вашего пароля (если последняя цифра 0, то вариант - 10).
Вариант 10.
Написать вычислительную подпрограмму по заданию варианта.
2. Реализовать возможность вызова полпрограммы из п.1 в цикле для заданного диапазона размеров матрицы или вектора с заданным ша-гом приращения размера.
3. Встроить измерение времени выполнения главной вычислительной операции с помощью таймера с заданным вариантом таймера.
4. С
340 руб.
Основы экономической теории. Тесты и задания.
studypro
: 27 июля 2015
Основы экономической теории
Тесты – 50 баллов
Ситуации – 40 баллов
Оценки:
Набранные баллы Оценка
90 – 82 5
81 – 71 4
70 – 60 3
1.(6р) Рыночный спрос на керамический кирпич определяется функцией QD = 70 - 6P, а предложение - функцией QS = 20 + 4P, где P – цена товара. Если рынок керамического кирпича находится в равновесии, то равновесная цена равна (покажите решение):
2.(4p) Данный график представляет рынок кондитерских изделий:
3.(4р) Если сокращение цены товара на 5% приводит к увеличени
90 руб.
Контрольная работа по дисциплине Межкультурные коммуникации в профессиональной деятельности. Вариант №01
f-akho
: 14 октября 2023
Реферат на тему: «Межкультурная коммуникация как область знания»
СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ 3
1. ФОРМИРОВАНИЕ ПОНЯТИЯ «МЕЖКУЛЬТУРНАЯ КОММУНИКАЦИЯ» 4
2. ОСНОВНЫЕ ФОРМЫ МЕЖКУЛЬТУРНОЙ КОММУНИКАЦИИ 8
3. ОСОБЕННОСТИ ПРОЯВЛЕНИЯ МЕЖКУЛЬТУРНОЙ КОММУНИКАЦИИ В УСЛОВИЯХ ГЛОБАЛИЗАЦИИ 11
ВЫВОДЫ 15
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ 16
Межкультурная коммуникация как обмен между людьми ценностными достояниями существовала всегда, ведь с давних времен возникали связи, способствовавшие взаимодействию и взаимопониманию разных культур
328 руб.
Деловое общение, повышение его эффективности
Lokard
: 23 марта 2014
Содержание:
1.Модель коммуникационного процесса: его элементы и этапы……………3
2.Коммуникационные каналы и сети…………………………………………..4
3.Повышение эффективности организационных коммуникаций……………4
4.Коммуникационные помехи………………………………………………….5
5.Некоторые пути решения проблем деловых коммуникаций………………6
Список литературы
1.Модель коммуникационного процесса: его элементы и этапы. Термин «коммуникация» является производным от латинского слова, означающего «общее» или «разделяемое всеми». Если человек не
10 руб.