Контрольная работа № 1 по дисциплине «Физические основы микроэлектроники». Вариант №22

Цена:
650 руб.

Состав работы

material.view.file_icon 51335F4C-BA45-4146-96B7-99BC882D1D73.docx
Работа представляет собой файл, который можно открыть в программе:
  • Microsoft Word

Описание

Вопрос No 7
Покажите правильную зависимость потенциальной энергии электрона в отдельном (изолированном) атоме.
Вопрос No 23
Сколько электронов каждого атома в кристаллах германия или кремния принимает участие в образовании ковалентных связей с соседними атомами? Ответы:
1) по 4 электрона от каждого атома;
2) по 2 электрона;
3) по 1 электрону от каждого соседнего атома для образования четырех ковалентных связей;
4) электроны не принимают участия в ковалентных связях между атомами.
Вопрос No 31
Какие сведения о полупроводнике необходимы для расчета эффективной массы электрона? Ответы:
1) тип полупроводника;
2)  эффективная масса электрона известна;
3) эффективную массу электрона в зоне проводимости можно рассчитать, если известна экспериментальная зависимость Е(k) для электрона в этой зоне;
4) необходимо знать зону, в которой находится электрон.
Вопрос No 40
Каков механизм поставки дополнительных электронов примесными атомами в донорном полупроводнике? Ответы:
1) дополнительные электроны вводятся в зону проводимости донорного полупроводника один раз на стадии его изготовления;
2) причина образования дополнительных электронов - тепловая ионизация донорных атомов;
3) дополнительные электроны возникают только за счет их перехода из валентной зоны;
4) электроны при повышении температры от 0 К в первую очередь переходят в зону проводимости с донорных уровней.
Вопрос No 55
Какое выражение используется для расчета концентрации электронов в донорном полупроводнике? Ответы:
1) nn = (NdNc/2)1/2 еxp[-(Ec-Ed)/2kT] ;
2) nn = (NdNc/2)1/2 еxp[-(Ed-Ev)/2kT] ;
3) nn = Nd еxp[-(Ec-Ed)/2kT] ;
4) nn = (NvNc)1/2 еxp[-(Ec-Ev)/2kT] ;
Задача 2.8. Вычислите в электронвольтах положение уровня Ферми относительно потолка валентной зоны в собственном кремнии при температуре 270 С, если эффективные массы электронов и дырок, соответственно, mn=1,08 m0, mp=0,56 m0, ширина запрещенной зоны кремния Е =1,11 эВ.
Контрольная работа №1 по дисциплине "Физические основы микроэлектроники". Вариант №24
КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА No 1 Таблица компоновки билетов Тестовые вопросы Задача Вариант No 24 11 13 33 41 60 2.10 Вопрос No 11 Почему энергетические уровни электронов, расположенных в слое вблизи ядра атома, при образовании кристалла испытывают более слабое расщепление, чем все другие уровни? Ответы: 1) это явление связано с различием спинового (s) и магнитного (m) квантовых чисел для электронов внутренних и внешних слоев; 2) расщепление энергетических уровней электронов, расположенных во
User freelancer : 22 апреля 2016
70 руб.
Контрольная работа №1 по дисциплине "Физические основы микроэлектроники". Вариант №24
Вопрос No 11 Почему энергетические уровни электронов, расположенных в слое вблизи ядра атома, при образовании кристалла испытывают более слабое расщепление, чем все другие уровни? Ответы: 1) это явление связано с различием спинового (s) и магнитного (m) квантовых чисел для электронов внутренних и внешних слоев; 2) расщепление энергетических уровней электронов, расположенных во внутренних и внешних слоях, имеет одинаковый вид, т.к. уровни принадлежат одному атому; 3) вследствие экранирующ
550 руб.
Физические основы микроэлектроники
Для усиления и генерации колебаний СВЧ-диапазона может быть использована аномальная зависимость скорости электронов от напряженности электрического поля в некоторых полупроводниковых соединениях, прежде всего в арсениде галлия. При этом основную роль играют процессы, происходящие в объеме полупроводника, а не в p-n-переходе. Генерацию СВЧ-колебаний в однородных образцах GaAs n-типа при напряженности постоянного электрического поля выше порогового значения впервые наблюдал Дж. Ганн в 1963 г. (поэ
User Elfa254 : 10 августа 2013
10 руб.
Контрольная работа № 2 по дисциплине "Физические основы микроэлектроники". Вариант №22.
Вопрос No 11 Почему энергетические уровни электронов, расположенных в слое вблизи ядра атома, при образовании кристалла испытывают более слабое расщепление, чем все другие уровни? Ответы: 1) это явление связано с различием спинового (s) и магнитного (m) квантовых чисел для электронов внутренних и внешних слоев; 2) расщепление энергетических уровней электронов, расположенных во внутренних и внешних слоях, имеет одинаковый вид, т.к. уровни принадлежат одному атому; 3) вследствие экранирующего влия
User freelancer : 16 апреля 2016
300 руб.
Контрольная работа № 2 по дисциплине "Физические основы микроэлектроники". Вариант №22
Вопрос No 11 Почему энергетические уровни электронов, расположенных в слое вблизи ядра атома, при образовании кристалла испытывают более слабое расщепление, чем все другие уровни? Ответы: 1) это явление связано с различием спинового (s) и магнитного (m) квантовых чисел для электронов внутренних и внешних слоев; 2) расщепление энергетических уровней электронов, расположенных во внутренних и внешних слоях, имеет одинаковый вид, т.к. уровни принадлежат одному атому; 3) вследствие экранирующ
650 руб.
Экзамен по дисциплине «Физические основы микроэлектроники». Билет №22
КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА No 1 Таблица компоновки билетов Тестовые вопросы Задача Вариант No 22 7 23 31 40 55 2.8 Вопрос No 7 Покажите правильную зависимость потенциальной энергии электрона в отдельном (изолированном) атоме. Ответы: Вопрос No 23 Сколько электронов каждого атома в кристаллах германия или кремния принимает участие в образовании ковалентных связей с соседними атомами? Ответы: 1) по 4 электрона от каждого атома; 2) по 2 электрона; 3) по 1 электрону от каждого соседнего атома для
User freelancer : 20 апреля 2016
80 руб.
promo
Физические основы микроэлектроники. Контрольная работа №3. Контрольная работа № 4
КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА No 3 Вариант No 17: Тестовые вопросы(26 62 96 124 165), Задача 4.6 КОНТРОЛЬНАЯ РАБОТА No 4 Вариант No 17: Тестовые вопросы( 46 51 115 154 234) Задача 6.7 Вопрос No 26 Покажите дисперсионные кривые - зависимости Е(к) для Ge, Si и GaAs. Ответы укажите строго в той последовательности, которая преду-смотрена в вопросе. Вопрос No 46 Дайте правильное определение уровня Ферми. Вопрос No 51 Что называется вырожденным электронным газом? Вопрос No 62 Для каких полупроводников сп
User dedtalash : 15 апреля 2013
150 руб.
Контрольная работа №1 По дисциплине: Электромагнитные поля и волны Вариант 22
1. Плоская электромагнитная волна с частотой f распространяется в безграничной реальной среде с диэлектрической проницаемостью , магнитной проницаемостью а = 0, проводимостью . Амплитуда напряженности электрического поля в точке с координатой z = 0 Еm. 2. Выбрать размеры поперечного сечения прямоугольного волновода, обеспечивающего передачу сигналов в диапазоне частот от ГГц до ГГц на основной волне. Амплитуда продольной составляющей магнитного поля А/м. Для выбранного волновода рассчитать
User shpion1987 : 26 октября 2011
50 руб.
Одноэтажное промышленное здание. Объёмно-планировочное и конструктивное решение
СОДЕРЖАНИЕ ВВЕДЕНИЕ 3 1 Объёмно-планировачное и конструктивное решения 8 2 Строительная часть 9 2.1 Фундаменты и фундаментные балки 9 2.2 Колонны 11 2.3 Стропильные конструкции 12 2.3 Стропильные конструкции 13 2.3.1 Определение нагрузок на ферму 15 2.3.2 Определение усилий в элементах фермы 16 2.4 Покрытия 29 2.5 Фонари 30 2.6 Подкрановые балки 31 2.7 Стены 32 2.8 Связи 33 2.9 Светотехнический расчет 34 СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННЫХ ИСТОЧНИКОВ 36 Масштабность применения бетона и железобетона обусловл
User GnobYTEL : 23 мая 2012
44 руб.
Роботизированные комплексы (РТК) предназначенные для технологического процесса сборки
Характеристики и структура РТК сборки Промышленные роботы применяют для автоматизации операций при выполнении всех видов сборочных работ. На операциях сборки под дальнейшую механическую обработку ПР используют: для подачи, ориентации и соединения деталей в один комплект, их взаимного закрепления, установки и снятия комплекта при обслуживании обрабатывающего оборудования. При узловой сборке ПР применяют: для поиска и распознавания деталей, их транспортирования, ориентации и подачи на сборочную по
User evelin : 14 ноября 2012
19 руб.
Расчет цифрового БИХ фильтра
Синтез полосно-пропускающего фильтра эллиптического вида при использовании обобщенного билинейного преобразования, синтез аналогового нормированного ФНЧ-прототипа, расчет амплитудно-частотной характеристики ФНЧ-прототипа, расчет параметров ЦФ методом обобщенного билинейного преобразования, построение логарифмических частотных характеристик
User marshall9 : 5 июня 2017
100 руб.
ФЦКН.01.11.00.000 СБ - Кронштейн
Разъемные соединения. ФЦКН.01.11.00.000 СБ - Кронштейн. Сборочный чертеж. Спецификация. Чертежи В состав работы входит: -3D модели всех деталей; -3D сборка; -3D сборка с разносом компонентов; -Чертежи всех деталей; -Чертежи стандартных изделий; -Сборочный чертеж; -Спецификация. ФЦКН.01.11.00.000 СБ - Кронштейн Сборочный чертеж ФЦКН.01.11.01.000 СБ - Корпус сварной Сборочный чертеж ФЦКН.01.11.00.001 - Фланец ФЦКН.01.11.01.001 - Корпус ФЦКН.01.11.01.002 - Ушко ФЦКН.01.11.01.003 -
User .Инженер. : 22 апреля 2026
600 руб.
ФЦКН.01.11.00.000 СБ - Кронштейн promo
up Наверх